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一种Ti-Al系合金粉末的电子探针样品制备方法及显微偏析的检测方法

摘要

本发明公开了一种Ti‑Al系合金粉末的电子探针样品制备方法及显微偏析的检测方法,属于粉末冶金钛合金加工技术领域。该方法包括:(1)按比例配比Ti‑Al系合金粉末和导电镶嵌料粉末;(2)将混合均匀的粉末进行热镶嵌;(3)将镶嵌后的试样进行粗磨、精磨、抛光和清洗,即得本发明的电子探针样品;(4)采用电子探针将不同粒径的电子探针样品沿着粉末截面的直径方向进行EPMA定量线扫分析,每个粉末颗粒的测试点不少于10个,测试主要合金元素(如Al)的含量,并表征粉末颗粒的显微偏析情况。本发明操作简便灵活,实验成功率高,易于推广,应用前景广阔。

著录项

  • 公开/公告号CN111060544A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院金属研究所;

    申请/专利号CN201911260907.0

  • 申请日2019-12-10

  • 分类号

  • 代理机构沈阳科苑专利商标代理有限公司;

  • 代理人于晓波

  • 地址 110016 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号

  • 入库时间 2023-12-17 08:00:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/225 申请日:20191210

    实质审查的生效

  • 2020-04-24

    公开

    公开

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