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基于SiC/金刚石复合衬底层的半导体器件及其制备方法

摘要

本发明涉及一种基于SiC/金刚石复合衬底层的半导体器件及其制备方法。所述半导体器件的制备方法包括:制备复合衬底层,其中,所述复合衬底层包括SiC衬底层和金刚石层;利用化学气相沉积法在所述SiC衬底层的Si面生长AlN成核层;利用化学气相沉积法在所述AlN成核层上生长GaN缓冲层;利用化学气相沉积法在所述GaN缓冲层上生长AlGaN势垒层。本发明将具有高质量的SiC衬底层与具有高热导率的金刚石层相结合,形成SiC/金刚石复合衬底层结构,利用金刚石层的高热导率的优点,提高了单纯在SiC衬底层上生长大功率氮化物半导体材料的散热能力。

著录项

  • 公开/公告号CN110828293A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-02-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201810913225.4

  • 申请日2018-08-13

  • 分类号

  • 代理机构西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人郝梦玲

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2023-12-17 07:51:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/02 申请日:20180813

    实质审查的生效

  • 2020-02-21

    公开

    公开

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