首页> 中国专利> 时变退化质量特征补偿的全寿命周期质量稳健性优化方法

时变退化质量特征补偿的全寿命周期质量稳健性优化方法

摘要

时变退化质量特征补偿的全寿命周期质量稳健性优化方法,属于电磁继电器质量优化设计领域。分析确定电磁继电器关键设计参数,进行线性度分析,基于K‑L展开方法将电磁继电器全寿命周期进行展开,分为若干个子寿命区间,使用克里金方法将子寿命区间的质量稳健性特征参数建模,并进行统一化表达,建立电磁继电器全寿命周期质量稳健性模型,质量稳健性特征要求水平选取合适的质量特征水平,计算时变退化参数作用下的电磁继电器质量稳健性特征偏移度,将质量偏移补偿到全寿命周期质量稳健性的需求,使用蒙特卡洛生成批量样本,计算输出特征,验证优化效果。为解决电磁继电器产品全寿命周期质量稳健性设计优化提出了一种新方法。

著录项

  • 公开/公告号CN111046555A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201911267915.8

  • 发明设计人 翟国富;陈昊;陈岑;叶雪荣;

    申请日2019-12-11

  • 分类号

  • 代理机构哈尔滨龙科专利代理有限公司;

  • 代理人高媛

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2023-12-17 07:51:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F30/20 申请日:20191211

    实质审查的生效

  • 2020-04-21

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号