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三维几何形状测量设备和三维几何形状测量方法

摘要

本发明提供三维几何形状测量设备和三维几何形状测量方法。三维几何形状测量设备包括:投影部(1),用于将投影图像投影到待测量对象上;摄像部(2),用于通过拍摄投影有所述投影图像的待测量对象生成拍摄图像;关系识别部(302),用于识别与拍摄像素位置具有对应关系的投影像素位置;以及不良像素判断部(303),用于基于从投影部(1)开始并通过投影像素位置处的像素的投影光束与从摄像部(2)开始并通过具有所述对应关系的拍摄像素位置处的像素的拍摄光束之间的位置关系来判断拍摄像素位置处的像素是否是不良像素。

著录项

  • 公开/公告号CN110906884A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-03-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社三丰;

    申请/专利号CN201910863067.0

  • 发明设计人 宫田薫;

    申请日2019-09-12

  • 分类号

  • 代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇

  • 地址 日本神奈川县

  • 入库时间 2023-12-17 07:13:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-24

    公开

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