首页> 中国专利> 等离子体产生装置、具备它的发光分析装置及质谱分析装置、以及装置状态判定方法

等离子体产生装置、具备它的发光分析装置及质谱分析装置、以及装置状态判定方法

摘要

高频电力供给部(2)向感应线圈供给高频电力。状态判定处理部(81)基于由高频电力供给部(2)向感应线圈供给的高频电力的频率的变化,来判定等离子体产生装置的状态。以向感应线圈供给的高频电力的频率的变化为基准来判定等离子体产生装置的状态,由此能够基于稳定的判定基准来更准确地判定装置的状态。

著录项

  • 公开/公告号CN110892795A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-03-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社岛津制作所;

    申请/专利号CN201880046770.6

  • 发明设计人 伊奈健一;

    申请日2018-06-14

  • 分类号

  • 代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇

  • 地址 日本京都府

  • 入库时间 2023-12-17 07:13:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):H05H1/30 申请日:20180614

    实质审查的生效

  • 2020-03-17

    公开

    公开

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