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一种测量纳米晶粒梯度材料中梯度层厚度的方法

摘要

本发明公开一种测量纳米晶粒梯度材料中梯度层厚度的方法,属于金属材料加工技术领域;通过退火和表面纳米化处理的材料获得从处理表面沿着厚度方向为梯度结构层,依次为纳米晶粒层、超细晶粒层、变形粗晶粒层和粗晶粒层,该纳米晶粒梯度结构材料的高强度和高延展性并存;本发明所述方法采用纳米压痕的方法测量纳米晶粒梯度材料中梯度层厚度,所述方法操作过程操作简单,容易实现;在迅速发展的电子通信、航空航天、武器装备等行业有很大的应用空间。

著录项

  • 公开/公告号CN110954421A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 昆明理工大学;

    申请/专利号CN201911242906.3

  • 发明设计人 张金旭;龚玉兰;朱心昆;

    申请日2019-12-06

  • 分类号

  • 代理机构昆明人从众知识产权代理有限公司;

  • 代理人代转嫚

  • 地址 650093 云南省昆明市五华区学府路253号

  • 入库时间 2023-12-17 07:04:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N3/42 申请日:20191206

    实质审查的生效

  • 2020-04-03

    公开

    公开

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