具有连续测量物位传感器的物位测量装置及其操作方法

摘要

本发明涉及一种包括单个连续测量物位传感器(200)和用于控制所述物位传感器(200)并用于评估测量结果的至少一个处理器(500)的物位测量装置，其中，所述物位测量装置至少具有用于测定所述物位的第一操作模式(300)和第二操作模式(301)，其中，所述测量装置在所述第一操作模式(300)下显示出第一测量速率和第一测量精度，并在所述第二操作模式(301)下显示出第二测量速率和第二测量精度，其中，所述第一测量速率低于所述第二测量速率和/或所述第一测量精度低于所述第二测量精度。