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显微镜以及在可变机械参数下显微检查样本的方法

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摘要

本发明涉及一种显微镜以及一种显微检查样本的方法，其中，在显微镜中，机械参数(θ)是可变的。在方法的一个步骤中，选取机械参数(θ)的待调整出的第一值(θ

1. 显微镜以及在可变机械参数下显微检查样本的方法 [P] . 中国专利： CN110799879A . 2020-02-14
2. 用于检查微观样本的光显微镜和显微镜学方法 [P] . 中国专利： CN104515469A . 2015-04-15
3. Microscope and method for microscopy of a sample under a variable mechanical parameter [P] . 德国专利： DE102017114562A1 . 2019-01-03

机译：显微镜和用于在可变机械参数下对样品进行显微镜检查的方法
4. Electron microscopic examination method for examining biosample while keeping said biosample unchanged and composition for evaporation inhibition under vacuum scanning electron microscope and transmission electron microscope for use in said method [P] . IN2014DN01848A . 2015-05-15

机译：用于在保持生物样品不变的情况下检查生物样品的电子显微镜检查方法以及用于该方法的真空扫描电子显微镜和透射电子显微镜下的抑制蒸发的组合物
5. ELECTRON-MICROSCOPIC EXAMINATION METHOD FOR EXAMINING BIOSAMPLE WHILE KEEPING SAID BIOSAMPLE UNCHANGED, AND COMPOSITION FOR EVAPORATION INHIBITION UNDER VACUUM, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE FOR USE IN SAID METHOD [P] . 欧洲知识产权局专利： EP2755225A4 . 2015-08-05

机译：在保持原样不变的情况下检查生物样品的电子显微镜检查方法，以及用于真空，蒸发扫描电子显微镜和透射电子显微镜的蒸气抑制组合物