基于SURF特征匹配的电子元器件定位和检测方法

摘要

本发明公开了基于SURF特征匹配的电子元器件定位和检测方法，所述方法包括：采集样本电路板的图像和待测电路板的图像，对原始样本图像和原始待测图像建立坐标系，分别对两个图像进行均值降采样，得到参考样本图像和参考待测图像；分别对参考样本图像和参考待测图像进行SURF特征点提取以及特征点的匹配，得到匹配点，计算出参考样本图像和参考待测图像之间的几何变换关系，定位出原始待测图像中的电子元器件的坐标，判断原始待测图像中的电子元器件是否存在缺陷；本发明对图像进行降采样后定位待测电路板上的电子元器件，并根据颜色矩差异检测出电子元器件的缺陷，大大缩短定位时间，降低图像数据处理复杂程度，且提高检测准确性和检测精度。