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一种紫外二阶非线性光学测试装置及测试方法

摘要

本发明公开了一种紫外二阶非线性光学测试装置及其测试方法,属于光谱仪器技术领域,能够解决现有的光学测试装置不能对样品在紫外波段的非线性光学性能进行测试的问题。所述装置通过激光单元向待测样品发射第一激光,利用待测样品采集单元接收第一激光透过待测样品后产生的倍频光,并将其转化为待测样品的倍频电信号,其中第一激光的倍频光为紫外激光;检测单元接收待测样品的倍频电信号,并对其进行检测,得到待测样品的光学定性信息。本发明装置通过测试激光透过待测样品后是否产生倍频激光,进而判断待测样品在紫外波段是否具有非线性光学性能。本发明的装置简单,测量成本低,测量效率高,方便快捷。

著录项

  • 公开/公告号CN110940635A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-03-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院福建物质结构研究所;

    申请/专利号CN201911087071.9

  • 发明设计人 李丙轩;徐翔;魏勇;张戈;

    申请日2019-11-08

  • 分类号

  • 代理机构北京元周律知识产权代理有限公司;

  • 代理人校丽丽

  • 地址 350002 福建省福州市鼓楼区杨桥西路155号

  • 入库时间 2023-12-17 06:55:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/17 申请日:20191108

    实质审查的生效

  • 2020-03-31

    公开

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