首页> 中国专利> 一种改善锗单晶内应力及内部缺微陷的热处理方法

一种改善锗单晶内应力及内部缺微陷的热处理方法

摘要

一种改善锗单晶内应力及内部缺微陷的热处理方法,包括以下步骤:S1:将需要进行退火的锗单晶截断成合适的长度并标明编号放入炉中;S2:按照设备操作规程,将炉子抽真空后再充入氩气,然后重复两次;第二次充入氩气时,保持炉室内氩气为常压,氩气持续通入一定的气流量;单晶在氩气氛围中升温;S3:升温与降温过程包括:S31升温至100℃;S32:升温至350℃;S33:升温至450℃;S34:恒温处理;S35:降温冷却至25℃。本发明,热处理顶点温度450℃,在该温度点作为热处理顶点温时,能够有效消除锗单晶内应力与内部微缺陷。同时,根据不同直径尺寸的单晶设置了不同的升降温方案,在保证热处理效果的同时提升了生产效率。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-03

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号