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用于电离样品的质谱分析探针和系统

摘要

本发明大体上涉及用于电离样品的质谱分析探针和系统。在某些实施例中,本发明提供一种质谱分析探针,其包括衬底,其中该衬底的一部分涂布有一种材料,其一部分从该衬底突出。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J49/00 申请日:20141222

    实质审查的生效

  • 2020-01-03

    公开

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