多变量自相关过程残差T2控制图的可变抽样区间设计方法

摘要

本发明为多变量自相关过程残差T2控制图的可变抽样区间设计方法，用于减少多变量自相关过程残差T2控制图的平均报警时间，包括以下步骤：样本数据的分析与建模，平稳性检验；确定模型阶数；模型参数估计；计算控制图的统计量{Yt}，控制图的参数设计；控制图的监控；ATS的蒙特卡洛算法；VSI残差T2控制图与FSI残差T2控制图的比较，可变抽样区间控制图较固定抽样区间控制图具有很大的优越性,它可以显著提高控制图的效率,使得失控过程能够及早被发现。