残差T2控制图中多元自相关过程模型研究

摘要

针对当前多元自相关残差T2控制图研究中,存在阶数过高且在确定拟合模型阶数过程中花费成本过大问题,本文采用蒙特卡洛方法,取不同的偏移量δ,借助平均运行链长ARL比较多元p阶自相关数据在VAR(1)和VAR(p)拟合下残差T2控制图的性能。研究表明:对于高阶多元自相关数据,VAR(1)比VAR(p)拟合得到的残差T2控制图性能优越,因此可以直接用一阶模型拟合多元高阶数据,来对残差T2控制图进行研究,此方法既简化了问题,又节约了成本。