使用伪随机噪声对锁相环进行自测试

摘要

一种设备包括信号控制电路系统、锁相环(PLL)和相关性电路。所述信号控制电路系统提供承载伪随机相位噪声且如从应用时钟信号和伪随机噪声导出的参考时钟信号。所述PLL响应于承载所述伪随机相位噪声的所述参考时钟信号而提供与所述参考时钟信号的相位相关的输出信号。所述相关性电路通过将对应于来自所述相位检测器的所述输出信号的信号与所述伪随机噪声交叉相关并且作为响应通过评估相对于指示所述PLL的性能水平的已知阈值的所述交叉相关的结果而对所述PLL进行自测试。