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氧等离子体刻蚀聚二甲基硅氧烷表面形貌的方法

摘要

本发明提供氧等离子体刻蚀聚二甲基硅氧烷表面形貌的方法。将制备的PDMS印章,置于氧等离子体气氛下,对PDMS印章进行刻蚀,得到表面微结构。并且详细介绍了制备具有规整微结构的CD表面微结构的方法;本发明选用氧等离子体对复制模塑技术得到的具有表面微结构的PDMS印章进行刻蚀,通过改变氧等离子体刻蚀时间,精确调控PDMS印章微结构的高度。该技术成本低、精度高、操作简便、应用范围广。在不改变PDMS印章形貌的条件下,用氧等离子体调控PDMS印章的形貌高度。采用本发明的方法制得的微结构在在光学、微电子、传感器、生物医学等很多领域有着广泛的应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN104445052A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-03-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN201410736063.3

  • 发明设计人 鲁从华;姬海鹏;

    申请日2014-12-05

  • 分类号B81C1/00;

  • 代理机构天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人王丽

  • 地址 300072 天津市南开区卫津路92号天津大学

  • 入库时间 2023-12-17 04:57:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-15

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):B81C1/00 申请公布日:20150325 申请日:20141205

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2015-04-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):B81C1/00 申请日:20141205

    实质审查的生效

  • 2015-03-25

    公开

    公开

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