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基于阵列激光源的结构表面裂纹红外无损检测及成像方法

摘要

一种基于阵列激光源的结构表面裂纹红外无损检测及成像方法,首先利用激光扩束镜将脉冲激光器产生的激光源的光束扩大成一个直径为数厘米的准直激光束,然后利用m×n个阵列凸透镜将该激光束聚焦到被测试件表面形成半径小于1毫米的、均匀分布阵列激光光斑,然后由红外相机监测被阵列脉冲激光源照射的被测试件表面的温度场分布变化情况;当试件表面被照射区域存在裂纹时,裂纹会阻碍激光辐射的热量在表面的扩散,从而在裂纹两侧形成一个大的温度差。因此最后可通过被照射区域的温度梯度场来对试件表面裂纹进行检测和成像;本发明具有系统结构简单、易实现、易操作、检测速度快、灵敏度高、结果直观、能够实现远距离检测等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN104502409A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-04-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安交通大学;

    申请/专利号CN201410787271.6

  • 发明设计人 裴翠祥;陈振茂;蔡文路;杨桂才;

    申请日2014-12-17

  • 分类号G01N25/72;

  • 代理机构西安智大知识产权代理事务所;

  • 代理人何会侠

  • 地址 710049 陕西省西安市咸宁路28号

  • 入库时间 2023-12-17 04:40:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-10

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N25/72 申请公布日:20150408 申请日:20141217

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2015-05-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N25/72 申请日:20141217

    实质审查的生效

  • 2015-04-08

    公开

    公开

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