一种验证晶振起振可靠性的电路设计方案

摘要

本发明公开了一种验证晶振起振可靠性的电路设计方案。本方案在传统的晶振电路内部集成了一个数控的可变电阻，该电阻可通过数字开关灵活控制阻值大小，这样可以在对晶振起振做可靠性验证时通过改变电阻大小，得到晶振起振的临界条件，进而计算出晶振起振的安全因子。本方案大大减小了后期对晶振起振问题的测试成本与时间，减小了对PCB测试板的额外开销，更加准确的验证晶振起振的可靠性。