公开/公告号CN104237277A
专利类型发明专利
公开/公告日2014-12-24
原文格式PDF
申请/专利权人 无锡英普林纳米科技有限公司;
申请/专利号CN201410439050.X
申请日2014-08-29
分类号
代理机构南京苏高专利商标事务所(普通合伙);
代理人成立珍
地址 214192 江苏省无锡市锡山经济开发区芙蓉中三路99号
入库时间 2023-12-17 04:27:34
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-03-15
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N23/223 申请公布日:20141224 申请日:20140829
发明专利申请公布后的视为撤回
2015-01-14
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/223 申请日:20140829
实质审查的生效
2014-12-24
公开
公开
机译: 测定地质样品中痕量元素时X射线荧光法测量背景的方法
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机译: 一种干粉样品中痕量元素的荧光测定仪及其方法