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γ辐照降低LED效率崩塌效应及增强发光强度的方法

摘要

本发明公开了一种γ射线辐照降低LED效率崩塌效应及增强发光强度的方法,该方法在标准大气压,普通空气氛围下,采用γ射线对LED芯片进行辐照。选择适当的辐照剂量,使辐照后LED内In组分起伏增强,In团簇对载流子的束缚能力增加,载流子局域能力增强,因此发生去局域时电流密度增大,从而降低LED的效率崩塌效应,增强大电流密度下的发光强度。本发明工艺简单,操作方便,可大面积使用,与LED复杂的外延片生长过程和芯片制作过程无关,因此适于对LED芯片的光学性能进行改进,以促进InGaN基白光LED的应用。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-06

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L33/00 申请公布日:20141203 申请日:20140815

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2014-12-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L33/00 申请日:20140815

    实质审查的生效

  • 2014-12-03

    公开

    公开

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