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发光二极管响应特性的测试系统及方法

摘要

本发明提供了一种发光二极管响应特性的测试系统及方法。该测试系统包括:计算机调制模块,用于下发脉冲电压参数,并对接收到的光响应和电响应数据进行分析;脉冲电压产生模块,连接至计算机调制模块,用于依照计算机调制模块下发的脉冲电压参数,产生脉冲电压,并将该脉冲电压加载至待测试的发光二极管;以及数据采集模块,用于采集待测试的发光二极管的光响应和电响应数据,并将该光响应和电响应数据上传至计算机调制模块;其中,待测试的发光二极管,连接至脉冲电压产生模块,其在脉冲电压产生模块产生的脉冲电压的驱动下发光。本实施例能够实现脉冲电压下发光二极管光响应及电响应的同时快速测定。

著录项

  • 公开/公告号CN104181450A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-12-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN201410443019.3

  • 申请日2014-09-02

  • 分类号G01R31/26(20140101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人曹玲柱

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2023-12-17 02:55:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-06

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R31/26 申请公布日:20141203 申请日:20140902

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2014-12-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 申请日:20140902

    实质审查的生效

  • 2014-12-03

    公开

    公开

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