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基于两点线性和目标、环境的二元非线性红外探测器非均匀性校正方法

摘要

本发明公开了一种基于两点线性和目标、环境的二元非线性红外探测器非均匀性校正方法,它包括两点线性非均匀校正和基于目标、环境的二元非线性非均匀校正;其中两点线性非均匀校正包括以下子步骤:使焦平面通过光学系统与平面黑体源对准;计算每一探测元在高、低温下的响应平均值及所有探测元的响应平均值;计算每一探测元的校正增益和偏移量,分别存储在查找表内,以供校正时取用;根据查找表(LUT)内的增益和偏移量系数,对红外图像进行校正。本发明可以比较全面的描述焦平面探测器的响应特性,并且充分考虑资源开销、功耗和应用场合对精度的不同需求,能够有效提高红外热像仪的成像质量,降低焦平面非均匀性。

著录项

  • 公开/公告号CN104251742A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-12-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 成都市晶林科技有限公司;

    申请/专利号CN201410526400.6

  • 发明设计人 曾衡东;

    申请日2014-09-30

  • 分类号G01J5/52(20060101);G01J5/00(20060101);

  • 代理机构成都金英专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人袁英

  • 地址 610000 四川省成都市高新区天府四街66号1栋7层4号

  • 入库时间 2023-12-17 02:29:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-05-15

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01J5/52 申请公布日:20141231 申请日:20140930

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2015-01-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J5/52 申请日:20140930

    实质审查的生效

  • 2014-12-31

    公开

    公开

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