减轻同时多状态感测引起的变化

摘要

提供一种用于减轻同时多阈值(SMT)感测可以引起的感测变化的方法和设备。在SMT感测期间，可以使用两个或更多不同偏置条件以同时感测两个不同阈值电压。然而，当使用与用于验证的偏置条件不同的偏置条件读取时，存储器单元的阈值电压偏移可能存在变化。在一个实施例中，使用在SMT验证期间使用的两个(或全部)偏置条件读取每一个编程状态。换句话说，两个(或更多)不同的感测操作用于读取每一个存储器单元。来自这些不同感测操作的数据可以用于计算ECC解码器的初始值(例如，LLR、LR、概率)。在一个实施例中，仅当正常读取失败时执行该技术。