生成被验证适用于芯片卡的素数的方法

摘要

本发明涉及一种在电子设备(DV)中实现的用于生成素数的方法，该方法包括步骤：使用公式Pr＝2P x R+1(其中P是素数，且R是整数)计算具有位数(L)的候选素数(Pr)；对候选素数应用波克林顿素性测试；如果候选素数未能通过波克林顿测试，则丢弃该候选素数；从属于一组乘法逆元素的乘法逆元素(X)对属于一组大于2的小素数的数(Qj)的乘积(Pv)取模所得的结果生成整数(R)，使得候选素数(Pr)不能被所述组中的任何数整除。素数P的位数减1等于候选素数的位数的一半或1/3。