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一种不良导体导热系数测量装置及其测量方法

摘要

本发明公开了一种不良导体导热系数测量装置及其测量方法,该测量装置包括加热盘(5)、散热盘(6)、测温传感器(1/2)、信号预处理单元(3)以及数据处理单元(4),待测材料置(7)加热盘5与散热盘6之间,加热盘5设置于待测材料7上部,散热盘6设置于待测材料7下部,测温传感器(1)和测温传感器(2)分别置于加热盘(5)和散热盘(6)的小孔内,两个测温传感器分别与信号预处理单元(3)连接,信号预处理单元(3)与数据处理单元(4)相连,本发明通过专用测量方法用人性化界面与可编程测控模块相结合十分准确的测量与控制不良导体导热系数,并以数字显示和曲线方式显示试验的全过程,自动存储试验过程测试数据和实验结果,具有使用简便快捷,准确度高的优点。

著录项

  • 公开/公告号CN104020188A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-09-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海电机学院;

    申请/专利号CN201410273409.0

  • 发明设计人 朱泰英;余俊;杨党强;

    申请日2014-06-18

  • 分类号G01N25/16(20060101);

  • 代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人郑玮

  • 地址 200240 上海市闵行区江川路690号

  • 入库时间 2023-12-17 01:24:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-10-19

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N25/16 申请公布日:20140903 申请日:20140618

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2014-10-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N25/16 申请日:20140618

    实质审查的生效

  • 2014-09-03

    公开

    公开

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