芯片表面toehold协助下增强的单碱基突变检测

摘要

本发明提供一种基于toehold协助下的芯片表面增强DNA链替换反应来检测单碱基突变的技术。该技术将双链DNA(toehold交换探针)接枝到芯片表面，利用双偏振干涉测量技术(DPI)，根据toehold协助下的DNA链替换反应原理，实现在DPI上实时定量研究单碱基突变进程。该技术大幅度提高了正确目标链DNA的替换效率同时又能很好的抑制有突变目标链DNA的替换效率，大大提高了单碱基突变检测的信号。