一种从电介质散射背景中识别贵金属纳米粒子的方法

摘要

一种从电介质散射背景中识别贵金属纳米粒子的方法，其特征是先确定单个贵金属粒子及其局域表面等离子体共振波的两个波长，再采用两个波长的激发光源，利用显微成像系统分别对同一个待测样品进行测量成像，获得两幅图像；根据其中一幅图像中的粒子影像尺寸缩小或放大另一幅图像中相应粒子的影像尺寸，以消除由不同激发波长所造成的特征图像尺寸差异，定位重叠调整后的两幅图像；将获得的两幅图像进行相减，去除电介质颗粒的影像，留下贵金属粒子影像，从而识别出贵金属纳米粒子。本发明可应用于在高灵敏度光学显微成像系统(例如暗场显微镜、近场光学显微镜、激光外差干涉偏振显微镜)从电介质散射背景中提取和识别贵金属纳米粒子。