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集成电位隔离仪表装置以及用于制造集成电位隔离仪表装置的方法

摘要

本发明公开了一种集成电位隔离仪表装置以及用于制造集成仪表装置的方法。集成仪表装置的实施例包括载体、被置于载体上的控制芯片、置于载体上的第一测量器件芯片和封包,第一测量器件芯片从控制芯片电位隔离并且被配置为测量电力线的第一接线的至少一个第一参数,并且该封包将控制芯片和第一测量器件芯片封装。

著录项

  • 公开/公告号CN103995179A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-08-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英飞凌科技奥地利有限公司;

    申请/专利号CN201410049704.8

  • 发明设计人 S·罗西;R·贝西加托;

    申请日2014-02-13

  • 分类号G01R22/10;

  • 代理机构北京市金杜律师事务所;

  • 代理人王茂华

  • 地址 奥地利菲拉赫

  • 入库时间 2023-12-17 00:45:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-08-29

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R22/10 申请公布日:20140820 申请日:20140213

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2014-09-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R22/10 申请日:20140213

    实质审查的生效

  • 2014-08-20

    公开

    公开

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