法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-01-04
授权
授权
2014-07-30
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B15/00 申请日:20140416
实质审查的生效
2014-07-02
公开
公开
技术领域
本发明涉及精密位移测量技术领域,尤其是一种基于X射线几何投影 莫尔条纹的精密位移测量装置及方法。
背景技术
基于可见光光栅莫尔条纹的位移测量方法在科学技术和工业制造中 取得了广泛的应用,莫尔条纹位移测量的分辨率主要取决于光栅周期和条 纹细分技术,光栅周期越小,位移测量的分辨率就越高。
可见光莫尔条纹位移测量方法有两种:第一种是基于可见光几何投影 莫尔条纹进行位移测量,但是当光栅周期小于20um的时候,由于光栅衍射 效应增强,几何投影莫尔条纹对比度非常模糊,测量分辨率和测量精度大 大降低,因此这种方法很少用于位移测量;第二种是基于可见光光栅衍射 莫尔条纹进行位移测量,其利用微米量级的光栅,通过100~1000倍的条纹 电子细分技术,即可实现纳米级位移测量分辨率,该方法获得了较为广泛 的应用。但是为了产生明显的衍射,要求光栅缝隙宽度约大于光波波长, 但当光栅周期小于光波波长时,光的散射现象明显,莫尔条纹对比度急剧 降低,测量分辨率和精度大大降低。国内外目前使用的衍射光栅最小周期 为0.5um,因此基于可见光光栅衍射莫尔条纹位移测量的分辨率同样受到 了理论限制,目前光栅衍射莫尔条纹位移测量的精度约为1-10nm。
在可见光光栅衍射位移测量的具体实施过程中,要求第二个光栅必须 位于第一个光栅的Talbot平面内,两块光栅的安装间隙误差必须远小于 Talbot距离(d2/λ),可见光衍射光栅周期一般为0.5-20um,这就要求两 块光栅间隙在微米量级,实际间隙与理论间隙的偏差容限非常小,这就对 两块光栅的安装精度提出了非常高的要求。此外,当两块光栅之间的间隙 很小时,对环境条件的要求也随之提高,即使很小的灰尘都会对光栅造成 毁灭性的损伤。具体可参见参考文献:“楚兴春,纳米光栅干涉位移测量 关键技术的研究,国防科学技术大学工学博士学位论文,第9-14页,2005 年9月”;和“李琳,基于光栅衍射光干涉的位移测量技术研究,中国科 学院研究生院工学博士学位论文,第1-2页,2010年4月”。
发明内容
为了解决上述现有技术中存在的问题,本发明提出了一种基于X射线 几何投影莫尔条纹的精密位移测量装置及方法,本发明能够提高现有光栅 莫尔条纹位移测量技术的分辨率和灵敏度,增加两块光栅之间的距离,降 低光栅安装过程中的难度,提高系统使用的稳定性和可靠性。
根据本发明的一方面,提出一种基于X射线几何投影莫尔条纹的精密 位移测量装置,该装置包括:同步辐射加速器1、双晶单色器2、指示光 栅3、标尺光栅4、X射线探测器5和条纹细分和显示装置6,其中:
所述同步辐射加速器1用于产生平行同步X射线光;
所述双晶单色器2用于将所述同步辐射加速器1产生的平行同步X射 线光转换为单一波长、高准直的平行X射线;
所述平行X射线垂直照射顺序平行放置的指示光栅3和标尺光栅4, 以产生莫尔条纹;
其中,所述指示光栅3用于对X射线进行振幅调制;
所述标尺光栅4用于对穿过指示光栅3的X射线进行振幅调制;
所述标尺光栅4与运动部件连接在一起,所述运动部件的运动方向与 所述标尺光栅4的刻线方向近似垂直;
所述X射线探测器5置于所述标尺光栅4之后,用于探测所述莫尔条 纹,并输出相应的电信号;
所述条纹细分和显示装置6置于所述X射线探测器5之后,用于对所 述X射线探测器5输出的电信号进行条纹细分和显示处理,以进行数显控 制。
根据本发明的另一方面,还提出一种基于X射线几何投影莫尔条纹的 精密位移测量方法,该方法包括以下步骤:
步骤1,使用平行、单色的X射线作为光源,垂直照射顺序平行放置 的指示光栅和标尺光栅;
步骤2,利用X射线探测器在所述吸收光栅后探测得到周期较大的莫 尔条纹图案,所述莫尔条纹图案中,暗条纹是由一系列光栅刻槽交叉线组 成的不透光部分,而白条纹则是由一系列四菱形构成的透光部分;
步骤3,将标尺光栅固定在运动部件上进行运动,测量得到莫尔条纹 移动的周期数量n,即而得到被测量的运动位移量为l=nP0,其中,P0为标 尺光栅的周期。
目前广泛应用的莫尔条纹位移测量方法是基于可见光光栅衍射莫尔 条纹,而在本发明中,利用短波长的X射线(波长范围0.01-10nm)替换 可见光(波长范围400-700nm),用几何投影莫尔条纹替换光栅衍射莫尔 条纹,主要具有以下优点:
优点一:利用短波长的X射线作为光源,在产生明显几何投影莫尔条 纹的情况下,使用的光栅周期最小可以降低至纳米量级,经过条纹细分技 术,该方法进行位移测量的分辨率可以达到皮米量级(1皮米=10-12米)。 而目前可见光光栅衍射莫尔条纹位移测量的分辨率约为1-10nm,因此利用 该方法进行精密位移测量,分辨率可以提高2~3个量级;
优点二:用几何投影莫尔条纹代替光栅衍射莫尔条纹进行精密位移测 量,两块光栅之间的间隙不再受到Talbot距离的限制,可以根据实际情况 自由调节,这大大方便了两块光栅的安装固定,从而提高了系统的稳定性 和抗干扰能力。
附图说明
图1是本发明基于X射线几何投影莫尔条纹的精密位移测量装置结构 示意图;
图2是本发明基于X射线几何投影莫尔条纹的精密位移测量方法的流 程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实 施例,并参照附图,对本发明进一步详细说明。
本发明基于X射线几何投影莫尔条纹位移测量方案使用的是X射线, 考虑到X射线对人体的危害,本发明又需要同步辐射加速器来产生高性能 的X射线光源。因此,本发明适用于在同步辐射加速器内建立超精密位移 测量中心,用于非常特殊场合下的位移测量以及相关的角度、偏心量、应 力变形测量。
图1是本发明基于X射线几何投影莫尔条纹的精密位移测量装置结构 示意图,如图1所示,所述基于X射线几何投影莫尔条纹的精密位移测量 装置包括:同步辐射加速器1、双晶单色器2、指示光栅3、标尺光栅4、 X射线探测器5和条纹细分和显示装置6,其中:
所述同步辐射加速器1用于产生平行同步X射线光;
所述双晶单色器2用于将所述同步辐射加速器1产生的平行同步X射 线光转换为单一波长、高准直的平行X射线;
其中,所述X射线为短波长X射线,其波长范围为0.01-10nm。
所述平行X射线垂直照射顺序平行放置的指示光栅3和标尺光栅4, 以产生莫尔条纹;
其中,所述指示光栅3用于对X射线进行振幅调制;
所述标尺光栅4用于对穿过指示光栅3的X射线进行振幅调制;
在本发明一实施例中,所述指示光栅3和标尺光栅4的光栅周期相等, 所述标尺光栅4与指示光栅3的栅线之间形成一个微小的夹角θ。
所述标尺光栅4与运动部件连接在一起,所述运动部件的运动方向与 所述标尺光栅4的刻线方向近似垂直;
所述X射线探测器5置于所述标尺光栅4之后,用于探测所述莫尔条 纹,并输出相应的电信号;
所述条纹细分和显示装置6置于所述X射线探测器5之后,用于对所 述X射线探测器5输出的电信号进行条纹细分和显示处理,以进行数显控 制。
所述条纹细分和显示装置6一般包括前置放大电路、整形电路、译码 电路、倍频电路、误差校正电路、存储电路及显示电路等。
图2是本发明基于X射线几何投影莫尔条纹的精密位移测量方法的流 程图,如图2所示,所述基于X射线几何投影莫尔条纹的精密位移测量方 法包括以下步骤:
步骤1,使用平行、单色的X射线作为光源,垂直照射顺序平行放置 的指示光栅和标尺光栅,其中,指示光栅和标尺光栅的周期相等,均为P0, 两块光栅栅线间形成一个微小的夹角θ;
其中,所述X射线为短波长X射线,其波长范围为0.01-10nm。
步骤2,利用X射线探测器在所述吸收光栅后探测得到周期较大的莫 尔条纹图案,所述莫尔条纹图案中,暗条纹是由一系列光栅刻槽交叉线组 成的不透光部分,而白条纹则是由一系列四菱形构成的透光部分;
所述莫尔条纹的周期为
如果一块光栅在垂直于栅线的方向上移动一个光栅周期P0,则莫尔条 纹相应的移过一个摩尔条纹周期P,由上式看出,莫尔条纹的周期远远大 于光栅的周期,因此,莫尔条纹对于光栅的周期具有明显的放大作用。
步骤3,将标尺光栅固定在运动部件上进行运动,测量得到莫尔条纹 移动的周期数量n,即而得到被测量的运动位移量为l=nP0,为了达到更高 的运动位移测量精度,还可利用现有技术中的电子细分技术对于莫尔条纹 进行细分,这样可以精确分辨到一个莫尔条纹周期的百分之一到千分之一。
其中,所述运动部件的运动方向与标尺光栅的刻线方向近似垂直。
由于本发明采用的是短波长X射线,光栅周期P0最小可以达到纳米级 别,所以本发明进行位移测量的分辨率可以达到皮米量级(1皮米=10-12米)。
以上所述的具体实施例,对本发明的目的、技术方案和有益效果进行 了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本发明的具体实施例而 已,并不用于限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修 改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
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