公开/公告号CN103837778A
专利类型发明专利
公开/公告日2014-06-04
原文格式PDF
申请/专利权人 索尔思光电(成都)有限公司;
申请/专利号CN201410103326.7
申请日2014-03-19
分类号G01R31/00;
代理机构四川力久律师事务所;
代理人林辉轮
地址 611731 四川省成都市高新区西区科新路8号成都出口加工区西区2号5号标准厂房
入库时间 2024-02-20 00:02:49
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-09-01
发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R31/00 申请公布日:20140604 申请日:20140319
发明专利申请公布后的驳回
2014-07-02
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/00 申请日:20140319
实质审查的生效
2014-06-04
公开
公开
机译: 在硅晶片上制造测试电路的方法,包括用掩模版掩蔽集成电路和测试电路,分阶段进行屏蔽,并通过膜片暴露测试电路
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