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一种基于锥束X光FDK算法的混合插值方法

摘要

本发明公开了一种基于锥束X光FDK算法的混合插值方法,包括以下步骤:(1)获取锥束X光CT投影数据;(2)对投影数据进行滤波;(3)通过插值法估计投影地址的投影值进行FDK算法反投影重建。本发明在投影数据跳变剧烈的区域重建图像边缘清晰,平均梯度值大于双线性插值法,能很好地保留重建图像的边缘细节。另外,本发明在投影数据平缓变化区域重建图像平滑,均方误差都小于最近邻插值法和双线性插值法,同时能较好地抑制噪声。

著录项

  • 公开/公告号CN103489205A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-01-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN201310441865.7

  • 发明设计人 高红霞;梁剑平;胡跃明;

    申请日2013-09-25

  • 分类号G06T11/00(20060101);

  • 代理机构44245 广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人蔡茂略

  • 地址 511458 广东省广州市南沙区环市大道南路25号华工大广州产研院

  • 入库时间 2024-02-19 21:53:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-07-28

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06T11/00 申请公布日:20140101 申请日:20130925

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2014-02-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T11/00 申请日:20130925

    实质审查的生效

  • 2014-01-01

    公开

    公开

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