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一种针对GIS局放缺陷识别和定位的联合检测方法

摘要

一种针对GIS局放缺陷识别和定位的联合检测方法,该方法综合局放检测技术和X射线数字成像技术对GIS进行缺陷的识别和定位,两种检测手段取长补短,能及时、准确早发现起绝缘故障,有效提高了GIS检测效率和精确度,能够合理制定检修策略。本发明通过综合利用各种数字信号处理技术对采集到的局放信号和X射线图像信号分别进行处理,在不拆卸设备的前提下,及时快速的对缺陷进行识别和定位。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-07-06

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R31/12 申请公布日:20140129 申请日:20131016

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2014-03-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/12 申请日:20131016

    实质审查的生效

  • 2014-01-29

    公开

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