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一种控制在炉管内生成的氧化层厚度的方法

摘要

本发明提供一种控制在炉管内生成的晶片氧化层厚度的方法,在炉管内的产品晶片两侧设置有冗余片以将所述炉管装满,所述方法包括:使第一冗余片的与产品晶片正面相对的表面具有与产品晶片背面最外层相同的材料;其中所述产品晶片正面为所述产品晶片的要形成氧化层的表面,并且所述第一冗余片是炉管内最接近所述产品晶片的冗余片。本发明还提供了一种用于制作非易失性存储器件的方法,可以在该方法流程中使用上述控制晶片氧化层厚度的方法。

著录项

  • 公开/公告号CN103426747A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-12-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 无锡华润上华科技有限公司;

    申请/专利号CN201210147144.0

  • 发明设计人 陈清;

    申请日2012-05-14

  • 分类号H01L21/31;H01L21/8247;C30B31/06;

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人张懿

  • 地址 214028 江苏省无锡市国家高新技术产业开发区新洲路8号

  • 入库时间 2024-02-19 21:27:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-08-04

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L21/31 申请公布日:20131204 申请日:20120514

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2013-12-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/31 申请日:20120514

    实质审查的生效

  • 2013-12-04

    公开

    公开

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