法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-03-23
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R31/26 申请公布日:20131204 申请日:20120606
发明专利申请公布后的视为撤回
2013-12-25
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 申请日:20120606
实质审查的生效
2013-12-04
公开
公开
机译: 在集成电路之间的切缝区域中提供一种测试系统的测试系统,该测试系统以晶片形式集成在基板上,并且该测试系统用于测量和/或测试系统中测试结构的参数
机译: V2V V2V V2V测试设备一种用于V2V终端的测试系统,包括该测试系统和该测试方法
机译: V2V V2V V2V测试设备一种用于V2V终端的测试系统,包括该测试系统和该测试方法