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铝在低温下诱导非晶硅薄膜晶化为多晶硅薄膜的方法

摘要

本发明涉及一种铝在低温下诱导非晶硅制备多晶硅薄膜的方法,其属于多晶硅薄膜制备技术领域。利用金属铝的催化作用,在低温下通过两步退火法,将非晶硅薄膜诱导晶化为多晶硅薄膜,以减少金属沾污。其主要技术方案是:首先在玻璃上作为生长衬底,后续依次制备非晶硅、二氧化硅及铝膜,形成多重界面的结构。然后,进行两步退火,先进行快退,后续将样品置退火炉中进行慢退火、再腐蚀去铝,并用氮气吹干。最后可制得铝诱导晶化的多晶硅薄膜,晶粒大小约为50-200nm。本发明可有效缓解金属诱导晶化(MIC)技术中,金属污染,适用于场效应晶体管和薄膜太阳能电池等光电器件制备。

著录项

  • 公开/公告号CN103311105A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-09-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海大学;

    申请/专利号CN201310181115.0

  • 申请日2013-05-16

  • 分类号

  • 代理机构上海上大专利事务所(普通合伙);

  • 代理人陆聪明

  • 地址 200444 上海市宝山区上大路99号

  • 入库时间 2024-02-19 20:52:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-05-11

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/203 申请公布日:20130918 申请日:20130516

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2013-10-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/203 申请日:20130516

    实质审查的生效

  • 2013-09-18

    公开

    公开

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