使用增强型门控Q扫描技术来减少集成电路泄漏电力

摘要

通过确定电路设计的最小泄漏状态且接着选择使所述电路设计保持在其最低泄漏状态的逻辑门来选择用于q门控的特定逻辑门。取决于实施所述最小泄漏状态所需的输入，可将所述门选择为NOR或OR门。用经选择以实施所述最小泄漏状态的门实施的q门控可在选定操作模式期间启用。可用自动测试模式产生ATPG工具来确定电路的所述最小泄漏状态。