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一种基于并行编码译码的循环汉明码的纠错方法

摘要

本发明涉及纠错方法技术领域,公开了一种基于并行编码译码的循环汉明码的纠错方法,包括:先分析传统的串行CRC编码电路的结构得到串行CRC编码电路的六个寄存器中的数据之间的递推关系式;再将递推关系式展开得到并行编码中校验位和信息位之间的关系表达式;按照并行编码中校验位和信息位之间的关系表达式进行并行编码;再得到并行译码中新的校验位和新的编码字码之间的关系表达式,并进行并行译码得到码字;最后,对通过并行译码得到的码字进行纠错。本发明采用并行的方式对输入数据进行编码译码,不仅提高了输入信号的编码译码速度,而且实现了对输入信号的纠错,且添加的校验位最少。

著录项

  • 公开/公告号CN103023518A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-04-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;

    申请/专利号CN201210575422.2

  • 发明设计人 刘鑫;赵发展;韩郑生;

    申请日2012-12-26

  • 分类号H03M13/19(20060101);

  • 代理机构北京市德权律师事务所;

  • 代理人刘丽君

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号中科院微电子所

  • 入库时间 2024-02-19 19:20:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-04-27

    授权

    授权

  • 2013-05-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):H03M13/19 申请日:20121226

    实质审查的生效

  • 2013-04-03

    公开

    公开

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