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一种带有p型氮化镓埋层的垂直氮化镓基异质结场效应晶体管

摘要

本发明提供了一种带有p型氮化镓埋层的垂直氮化镓基异质结场效应晶体管,从下至上依次主要由漏极,n+-GaN衬底,n-GaN缓冲层,p-GaN电流阻挡层,GaN沟道层,AlGaN势垒层,以及AlGaN势垒层上的源极和栅极,源极与漏极均为欧姆接触,栅极为肖特基接触,该晶体管还包括位于n-GaN缓冲层内,p-GaN电流阻挡层与n+-GaN衬底之间的p-GaN埋层。本发明中,通过p型GaN埋层与n-GaN缓冲层之间形成的p-n结来扩展截止状态下n-GaN缓冲层内的耗尽区域,提升n-GaN缓冲层内电场强度,从而提高器件击穿电压。

著录项

  • 公开/公告号CN103151392A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-06-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201310049018.6

  • 申请日2013-02-07

  • 分类号H01L29/812(20060101);H01L29/06(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 610054 四川省成都市建设北路二段4号

  • 入库时间 2024-02-19 19:20:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-01-04

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L29/812 申请公布日:20130612 申请日:20130207

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2013-07-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/812 申请日:20130207

    实质审查的生效

  • 2013-06-12

    公开

    公开

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