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基于SiGe量子点模板刻蚀技术制备锗硅纳米柱的方法

摘要

基于SiGe量子点模板刻蚀技术制备锗硅纳米柱的方法,涉及一种SiGe纳米结构。提供一种大面积、纵向方向可控的、侧壁陡直度高的基于SiGe量子点模板刻蚀技术制备锗硅纳米柱的方法。1)将硅片清洗后,在UHV/CVD系统中,在硅片上生长Ge层;2)将步骤1)制备得到的样品置于氮气氛围中,采用KrF脉冲激光对样品进行辐照,得到直径不同的单层SiGe量子点;3)以步骤2)得到的单层SiGe量子点作为掩膜版,使用高能Ar

著录项

  • 公开/公告号CN103132077A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-06-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 厦门大学;

    申请/专利号CN201310074218.7

  • 申请日2013-03-08

  • 分类号

  • 代理机构厦门南强之路专利事务所;

  • 代理人马应森

  • 地址 361005 福建省厦门市思明南路422号

  • 入库时间 2024-02-19 18:43:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-09-28

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):C23F1/02 申请公布日:20130605 申请日:20130308

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2013-07-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23F1/02 申请日:20130308

    实质审查的生效

  • 2013-06-05

    公开

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