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显微镜用光学系统及使用了该显微镜用光学系统的显微镜

摘要

本发明提供一种显微镜用光学系统。该光学系统即使在将1微米级的试样以与光学系统的最靠物体侧的面接触或邻接的方式配置的情况下,也能够使观察图像具有足够的对比度和分辨率。显微镜用光学系统具备照明光学系统(G11)和物镜光学系统,物镜光学系统从物体侧依次具有物镜组(G12)、第1成像透镜组(G13)和第2成像透镜组(G14),并满足下述条件式。NAL×2≤NAO≤NAL×15...(1);0.01≤NAL≤0.1...(2);25≤MO≤100...(3),其中,NAL是照明光学系统(G11)的数值孔径,NAo物镜组(G12)的数值孔径,Mo是物镜组(G12)的成像倍率。

著录项

  • 公开/公告号CN110603473A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-12-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 安夸系统株式会社;

    申请/专利号CN201780089960.1

  • 发明设计人 狩野清史;槌田博文;梶谷和男;

    申请日2017-06-21

  • 分类号G02B21/02(20060101);G02B15/10(20060101);G02B21/36(20060101);G03B17/56(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人李逸雪

  • 地址 日本国群马县

  • 入库时间 2024-02-19 18:13:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B21/02 申请日:20170621

    实质审查的生效

  • 2019-12-20

    公开

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