针对测试组的执行而调度测试布置的测试资源的使用的方法和装置

摘要

在本发明的实施例中，用于针对测试组的执行而调度对测试布置(100)的测试资源的使用的方法和装置(105)被描述。本发明的方法包括获取(10)对用于利用所述测试布置(100)来测试被测器件(DUT)的测试流程(5)中的每个测试组(TG)做出的所述测试布置(100)的测试资源的指派，其中所述测试流程(5)包括所述测试组的初始执行次序。另外，该方法包括检查(20)在对测试流程(5)中的测试组做出的测试资源的指派与对另一测试流程中的另一测试组做出的一个或多个测试资源的指派之间是否存在资源冲突(7)，所述另一测试组被调度用于利用所述测试布置进行与所述给定测试组在时间上重叠的执行。此外，该方法包括响应于检查是否存在资源冲突的结果而操纵(30)测试流程中的测试组(TG)的执行次序的步骤，以使得通过以与结合移动操作执行时间间隔插入操作从而将与所述资源冲突相关联的测试组移动到所插入的时间间隔相比更高的优先级在测试流程中与资源冲突相关联的测试组之间执行交换操作(11)，来消除资源冲突。

说明书

技术领域

本发明涉及针对测试组的执行而调度测试布置的测试资源的使用的方 法以及调度测试资源的装置。本发明的实施例具体涉及针对测试组的执行 而调度半导体测试布置或半导体测试系统的测试资源的使用的方法。

背景技术

例如在生产之后测试器件或产品对于高产品质量、器件或产品性能的 估计、关于制造过程的反馈以及最终的高客户满意度等是至关重要的。通 常多个测试被执行以确保器件或产品的正确功能。这多个测试可被汇编在 测试流程中，其中该测试流程可被分离为包含用于测试器件或产品的一个 或多个测试的不同的测试套件或测试组。例如，半导体器件可被利用包括 接触测试、电流-电压测试、逻辑测试、速度测试、压力测试和功能测试的 测试流程来测试。测试流程可采用固定顺序的测试套件或测试组执行，即 测试套件按照某一时间次序或顺序来执行。因为测试半导体器件或产品一 般在所需测试设备的资本成本以及所需测试时间的时间成本方面可能相当 昂贵，因此应当以高效方式执行对器件或产品的测试。因此，器件经常被 并行测试以减少测试时间。但是另一方面，增加的并行测试经常需要测试 布置的大量测试资源。增长数目的并行受测器件、某些昂贵测试设备资源 的有限可用性例如对IC供应商而言变为主要的成本贡献者。某测试设备 的有限可用性可由这种测试系统的高资本成本造成，或者可由于在测试设 备的外形方面的有限可用性。对器件进行测试所需的测试资源必须或者可 按照器件获得，与高资本成本相关联，或者需要这些资源的测试被串行 化，即需要更高的测试时间并且结果因而也是更高的成本。应当注意到， 在测试期间每个测试并非总是利用测试布置的所有测试资源。

因此，对以高效有利方式调度测试布置的测试资源的方法和装置的需 要是合乎需要的。

发明内容

本发明提供了针对测试组的执行而调度测试布置的测试资源的使用的 方法，以及同样用途的装置。改进可涉及如下方式：用于并行测试被测器 件(DUT)的测试流程中的测试组如何被重新排序以使得测试布置的测试 资源可被以更高效方式应用。

这些目的通过如权利要求1所述的针对测试组的执行而调度对测试布 置的测试资源的使用的方法以及如权利要求18所述的调度测试布置的测 试资源的装置来实现。

根据本发明的实施例，用于针对测试组的执行而调度对测试布置的测 试资源的使用的方法可包括如下步骤：获取对用于利用测试布置来测试被 测器件(DUT)的测试流程中的每个测试组做出的测试布置的测试资源的 指派，检查在对用于并行测试被测器件的测试流程内的测试组和另一测试 组做出的测试资源的指派之间是否存在资源冲突，以及通过以预定方式操 纵测试流程中的测试组的执行次序来消除资源冲突。

根据某些实施例，对测试流程中的测试组的执行次序的操纵可被在后 续步骤中执行，这些后续步骤包括交换操作、与移动操作相结合的时间间 隔插入操作或者移动到空时间间隔操作。

根据实施例，交换(swap)操作、与移动操作相结合的时间间隔插入 操作以及移动到空时间间隔操作是以区分优先级的方式执行的，因此用于 执行测试的测试时间以及执行测试所需的测试资源的分配可被优化。

根据另外的实施例，用于调度测试布置的测试资源的装置被描述。

利用用于调度的本发明的方法和装置，测试时间减少以及测试资源减 少或优化可被实现。较之传统的测试方法，测试可被优化并且变得更加高 效。

附图说明

现在将参考附图以示例方式描述本发明的实施例，在附图中：

图1示出了根据本发明一个实施例的用于调度测试布置的测试资源的 方法的流程图；

图2a示出了图示出根据一个实施例的用于调度测试布置的测试资源的 方法的框图；

图2b示出了图示出根据另一个实施例的用于调度测试布置的测试资 源的方法的框图；

图3示出了图示出对测试布置的测试资源的无效调度的框图；

图4示出了图示出利用本发明的方法对图3中示例的测试资源的优化 调度的框图；

图5示出了根据本发明的方法的一个实施例的用于执行用于调度测试 布置的测试资源的方法的伪代码；

图6a图示出根据本发明的方法的一个实施例的测试布置的测试资源向 测试流程中的测试组的初始指派方案；

图6b图示出按照矩阵布置来布置的被测器件、对应测试组的示意性 布置，以及根据本发明的方法的一个实施例的搜索资源冲突的步骤；

图6c图示出根据本发明一个实施例的在测试组的矩阵布置内搜索不冲 突列的步骤；

图6d图示出根据本发明一个实施例的在矩阵布置的单个列内搜索资 源冲突的另一步骤；

图6e图示出根据本发明一个实施例的在测试组的矩阵布置内搜索不冲 突列的步骤；

图6f图示出根据本发明的方法在矩阵布置的另一单个列内搜索资源冲 突的步骤；

图6g图示出根据本发明的方法在矩阵布置中搜索不冲突列以及交换 相应测试组的执行次序的步骤；

图6h图示出搜索单个列内的冲突的步骤；

图6i图示出根据本发明的方法搜索不冲突列以及交换相应测试组的执 行次序的步骤；

图6j图示出在执行本发明的方法之后不再包括资源冲突的测试组的最 终测试矩阵布置；

图7示出了根据本发明一个实施例的用于调度测试布置的测试资源的 装置的框图。

具体实施方式

参考对本发明实施例的以下描述，将注意到，为了简化原因针对整个 说明书中在功能上起相同或类似作用或者在功能上相等或等同的步骤元素 在不同图中将使用相同的标号。

在图1中，针对测试组的执行而调度对测试布置的测试资源的使用的 方法的流程图被示出。根据实施例，用于调度测试布置的测试资源的方法 可包括以下步骤。获取10测试布置的测试资源向用于利用测试布置来测 试被测器件(DUT)的测试流程中的测试组的指派，其中该测试流程包括 测试组的初始执行次序。该方法还包括检查20在测试资源向测试流程中 的测试组的指派与一个或多个测试资源向另一测试流程中的另一测试组的 指派之间是否存在资源冲突，所述另一测试组被调度用于利用相同测试布 置进行与测试组在时间上重叠的执行。不同DUT的测试流程可能是相同 的测试流程，这意味着它们可以包括具有相同时间间隔的相同测试组，或 者测试流程例如为了测试不同DUT可以是不同的测试流程，但是具有相 同的测试布置。响应于检查20是否存在资源冲突的结果，可以执行对测 试流程中的测试组的执行次序的操纵30以使得资源冲突被消除。根据本 发明的实施例，可以通过执行对测试流程内与资源冲突相关联的测试组的 交换操作来消除资源冲突。较之与移动操作相结合的所谓时间间隔插入操 作，以更高的优先级来执行对测试流程中的测试组的交换操作。时间间隔 插入操作在测试流程中为测试组插入新的时间间隔。时间间隔可以充当测 试组的占位符，并且可以通过将与资源冲突相关联的测试组移动到测试流 程中由时间间隔插入操作创建的时间间隔来执行移动操作。

根据某些实施例，针对测试组的执行而调度对测试布置的测试资源的 使用的方法可被执行，以提高效率或者优化测试布置对测试器件的测试资 源分配。待测试的器件或产品一般被命名为被测器件(DUT)。这种 DUT例如可以是半导体器件、光学器件、电子器件或者电子电路，而且 可以是作为机械零件的其他产品、一般的消费产品以及例如汽车、化学、 机械工程、食品制造、医疗工程等领域中的其他商品。尽管以下实施例主 要指测试半导体器件，但是实施例不应当被视为缩小，这是因为用于调度 测试布置的测试资源的方法还有用于调度测试布置的测试资源的装置也可 被应用于在另一技术领域中调度测试资源。

测试布置可包括不同的测试资源，其中测试布置可包括例如可被链接 或分组在一起的一个(半导体)或多个测试仪或者一个或多个测试系统。 测试布置可被用于并行地或者至少在时间上重叠的时间间隔中测试至少两 个被测器件。这例如意味着第一和第二被测器件是同时或者至少部分同时 利用测试布置来测试的。第一被测器件可被首先测试，并且在第一被测器 件被测试的同时，第二被测器件也被利用同一测试布置来测试。每个测试 布置可包括一定数目的测试资源。这种测试资源可以是某一仪器，例如作 为测试布置一部分的测试仪或测试系统中的测量仪器。在半导体测试系统 或测试布置的情况下，这种测试资源例如可以是任意的波形发生器、数字 转换器、一个或多个器件功率供给信道、射频(RF)仪器以及一定数目 的模拟和/或数字信道。测试布置可包括一定数目的测试资源，这些测试 资源被以有效方式调度，使得用于在至少部分重叠的时间间隔中测试至少 两个被测器件的测试资源被以有效方式调度，以一方面减少测试时间并且 另一方面减少所需测试资源。

测试资源的定义是灵活的并且不局限于某一物理类型的测试资源，而 是还可涉及某一组的物理测试资源。这例如意味着任意的波形发生器、数 字转换器，并且例如三个数字信道可被视为测试资源或者可被分组在一起 作为测试资源。术语测试资源可以针对利用测试布置测试被测器件的需要 来适应性修改。一般而言，测试资源可包括最小和最大的粒度。粒度可取 决于测试资源的必需并行可用性。另外，应该注意到，测试流程可包括子 流程，其中这种子流程具有固定的执行次序以使得该子流程内不是必须发 生重新排序。这意味着，组成子流程的相应测试组的时间间隔不应被改 变。这种子流程还可包括相应测试流程内的固定执行次序，因此测试流程 内的子流程的时间间隔位置不应被改变。子流程可包括一个或多个测试 组，如在其中描述的。

根据第一步骤10，向用于利用测试布置测试被测器件的测试流程中 的测试组作出的测试资源指派被获得。测试布置如上所述可包括不同的测 试资源。在第一步骤10中，测试布置的测试资源可被指派给用于测试 DUT的测试流程中的某些测试组。测试资源向测试流程中的测试组的指 派可被视为利用用于执行本发明的方法或本发明的装置的指派测试资源来 指定测试组的起始配置。测试资源的这种指派可以例如由例如技师或(测 试)工程师之类的技术人员在外部实现，或者其可以由另外的算法来定 义。因此，获取这种指派的步骤10可以包括两种可能性—在外部获取这 种指派或者通过应用内部算法。在存在可被自由指派给任何DUT站点的 多于一个相同类型资源的情况下，向测试组指派资源实际可以需要另外的 算法。简单的算法将例如以循环方式指派这种资源的实例。这意味着，在 示例性实施例中，这种用于向测试组指派测试资源的算法可以是循环算 法，循环算法可以按照循环次序将测试资源RX1至RXn指派给用于测试 DUT 1至DUT N的测试组。示意性地，这在以下表达式中示出。DUT 1- ＞RX1，DUT 2-＞RX2，...，DUT n-＞RXn；DUT n+1-＞RX1，DUT n+2-＞ RX2，...，DUT 2*n-＞RXn；...；DUT m*n+1-＞RX1，...，DUT-＞RX(N-(m*n))。

测试组可包括为了测试DUT而执行的至少一个测试。测试流程确定 测试组以及其用于测试DUT的执行次序。测试流程包括测试组的初始执 行次序。每个测试组可包括至少一个测试，该至少一个测试在某一时间需 要测试布置的至少一个测试资源。因为测试布置的测试资源的数目是有限 的，因此可以并行运行或者在至少部分重叠的时间段或间隔内运行的指派 有某一测试资源的测试组的数目也是有限的。这意味着，在测试布置上只 有有限数目的DUT可以被并行测试或者在重叠的时间间隔内被测试。取 决于测试资源，例如可以通过测试布置获得的测试信道，半导体器件- DUT-可被例如32折、64折或者128折地并行测试。可利用测试布置在 重叠的时间段内并行地测试的每个被测器件可包括具有其自己的测试组以 及执行顺序的其自己的测试流程。这意味着，用于调度对测试布置的测试 资源的使用的方法不限于相同的DUT，并且其也不限于利用相同的测试 流程和相同的测试组来测试DUT。一般而言，测试布置可被用于利用包 括指派有测试布置的测试资源的相同或不同测试组的相同或不同测试流程 来测试多个相同或不同的被测器件。不同被测器件的测试流程可以在不同 的时间开始，可以在不同时间被中断，或者可以在相同或不同时间开始和 结束。测试流程可以在相同测试布置上至少部分同时运行。

在获取10对每个测试组的测试资源指派之后，这意味着用于利用测 试布置来测试被测器件的每个测试组具有被指派的测试布置的测试资源， 检查20在测试资源的两个指派之间是否存在资源冲突的步骤被执行。

在实施例中，用于调度对测试布置的测试资源的使用的方法包括检查 20在对一测试流程中的测试组作出的测试资源的指派与对另一测试流程 中的测试组作出的一个或多个测试资源的另一指派之间是否存在资源冲 突，另外的测试组被调度以使得发生与利用测试布置的测试组在时间上重 叠的执行。

根据这里的某些实施例，如果被调度在时间上重叠的执行时间间隔内 的指派有相同测试资源的测试组的数目高于测试布置中可用于时间上交叠 的执行的相同测试资源的数目，那么产生资源冲突。这意味着，例如如果 测试布置同时仅可以分配RA类型的三个测试资源，那么如果多于三个测 试资源在时间上重叠的时间间隔内被指派给测试组，则存在资源冲突。在 这种情况下，测试组之一的执行次序在测试流程内可被转移到不发生资源 冲突的时间间隔或时间位置。换言之，根据用于调度对测试布置的测试资 源的使用的方法的实施例，如果某些重叠的测试时间间隔中的可分配测试 资源的数目低于在相同重叠测试时间间隔中测试DUT所需的相同测试资 源的数目，那么产生资源冲突。

如这里描述的测试资源能可连接到多个DUT，或者可被例如以物理 方式、电方式、机械方式、光学方式或者测试组中的测试所必需的方式耦 合到多个DUT。在这在技术上将是不可能的情况下，测试资源可被视为 将特定于个体的单独测试资源并且在测试资源指派中可仅被分配给针对实 际可与该测试资源相连的DUT的测试群组或测试。因此，测试资源可以 是可以与不同DUT相连或耦合的单独测试资源或者动态测试资源。

根据用于调度对测试布置的测试资源的使用的方法，响应于检查20 是否存在资源冲突的结果，操纵30测试流程中的测试组的执行次序的步 骤被执行。可以执行操纵30以使得通过在指派的测试流程中与资源冲突 相关联的测试组之间执行交换操作来消除资源冲突。较之与移动操作相结 合的时间间隔插入操作，可以以更高的优先级执行交换操作。如果与资源 冲突相关联的测试组在测试流程中被与另一测试组相交换以使得两个测试 组的执行次序被交换，则交换操作可被执行，并且基于对测试组的交换或 操纵，相应的资源冲突可被消除。

根据实施例，除非新的资源冲突在测试流程中的测试组的新位置处形 成，交换操作可被执行。因此，检查20在两个测试组被交换到测试流程 中的相应时间间隔的情况下是否存在资源冲突的前一步骤被执行。在这种 情况下，如果存在新的资源冲突，则交换操作不被执行，但是如果没有新 的资源冲突并且通过交换测试流程内的测试组消除了旧的资源冲突，那么 交换操作被执行。

如果例如因为在所有可能的时间间隔位置都将发生新的资源冲突而无 法执行交换操作，则可以以更低的优先级执行时间间隔插入操作。在这种 情况下，空的时间间隔可被插入在测试流程中，并且与资源冲突相关联的 测试组在后续移动操作中可被转移到所插入的时间间隔。因此，通过插入 时间间隔并将与资源冲突相关联的测试组移动到该插入的时间间隔来增加 测试流程时间，资源冲突可被解决或消除。测试时间间隔可被插入在测试 流程的不同位置处。较之包括对测试资源的串行化在内的调度对测试资源 的使用的非优化方式，根据本发明的新时间间隔的这种插入不增加总的测 试时间。

在图2a中，示意性框图被示出以图示出测试布置100与利用该测试 布置100测试的被测器件(DUT 1、2、3、4)之间的关系。每个DUT 1、2、3、4应该利用其相应的测试流程来测试。这意味着DUT 1应该利 用测试流程5a来测试，DUT 2应该利用测试流程5b来测试，DUT 3应该 利用测试流程5c来测试，并且DUT 4应该利用测试流程5d来测试。

根据本发明的实施例，正被测试的DUT可以是相同或不同的DUT。 这意味着DUT例如可以是不同类型的半导体器件，或者所有DUT可以是 相同的。每个测试流程5a、b、c和d包括一定数目的测试组TG，其中每 个测试组TG_ij在该实施例中包括一个或多个被指派的测试资源RA、RB、 RC或RD。每个测试流程5a、b、c、d包括相应测试流程内的测试组的初 始执行次序。在该示例中，测试流程5a可包括执行次序TG₁₁、TG₁₂、 TG₁₃、TG₁₄，并且最终TG₁₅被执行。每个测试组可需要某一测试时间或 时间间隔。在该实施例中，测试组所需的时间间隔可以是相同的。在图 2a中，包括测试时间间隔A、B、C、D、E的示意性时间线t被示出。根 据该简单实施例，所有四个DUT都被测试，在相同时间开始并且每个测 试组包括相同的测试时间间隔时段或长度，即相同的测试时间。此外，测 试流程内的测试组的数目也是相同的。每个测试组TG包括用于测试相应 DUT的至少一个测试。时间间隔A中的所有测试组-TG₁₁、TG₂₁、TG₃₁和TG₄₁-是并行执行的或者按照在时间上重叠的执行次序执行的。对于 在时间间隔B期间并行运行的测试组TG₁₂、TG₂₂、TG₃₂和TG₄₂而言也是 如此，诸如此类。

取决于在某一时间间隔期间在测试布置中可用的测试资源，可发生资 源冲突。例如，在图2a中，测试布置100可以每个时间间隔仅分配一个 测试资源RA、RB、RC和RD，因而在时间间隔A期间测试组TG₁₁与 TG₂₁之间发生资源冲突，这是因为两个测试组在时间间隔A期间为了在 时间上交叠的执行都需要测试资源RA。测试时间间隔C中利用测试流程 5c来测试DUT 3的测试组TG₃₃为了执行测试可需要两个测试资源RA和 RB。因为在该实施例中，测试布置100在每个时间间隔仅使每个测试资 源可用一次，因此在时间间隔C中在测试组TG₃₃与测试组TG₄₃之间仍存 在另一资源冲突，这是因为两个测试组在同一时间间隔都需要测试资源 RB。利用如在此描述的用于调度测试布置的测试资源的方法，这种资源 冲突可被解决，因此测试时间和/或所需测试资源的数目可被优化。

操纵30测试组的执行次序的步骤还可以包括以物理方式将测试仪器 或测试资源电连接或者切换到例如在测试系统的负载板上的被测器件。这 意味着，本发明的方法还可以包括在某些时间间隔使测试布置的某些测试 资源与被测器件以电方式连接或断开。操纵测试组的执行次序可以包括切 换例如继电器以使测试资源与被测器件连接或断开，或者其还可以包括在 测试流程中的某一时间应用和/或测量测试信号或器件信号。测试布置可 被配置为评估从DUT接收到的器件信号。根据另外的实施例，还可以简 单地断开并交换DUT站点而非切换测试资源—尽管在半导体测试的情况 下电断开、机械交换、电连接、校正(settle)DUT的时间与对所要执行 的测试进行串行化相比可能涉及更多时间。但是对于与通常半导体测试 (一些毫秒或分钟)相比具有更长测试时间的非半导体测试，该上面提到 的方法可能是有用的。

根据某些实施例，存在一种通过执行如在此描述的用于调度对测试布 置的测试资源的使用的方法来描述的用于测试多个被测器件的方法，并且 该方法还包括在执行用于调度对测试资源的使用的方法之后基于测试流程 中的测试组的执行次序使多个被测器件与测试布置的测试资源以电方式连 接和/或断开的步骤。

测试布置可包括被配置为通过应用测试信号或电源(supply)信号来 执行对被测器件的测试并且/或者被配置为接收来自被测器件的器件信号 的测试资源，并且其中测试布置被配置为评估来自被测器件的器件信号以 确定被测器件是通过测试还是未能通过测试。

在图2b中，示出了用于图示出测试布置、被测器件、具有测试组的 测试流程、被指派的测试资源和重叠的时间间隔之间的关系的另一实施 例。根据该实施例，测试布置100被用于测试四个被测器件DUT 1、2、 3、4。每个器件再利用相对应的测试流程5a、b、c、d来测试。在该实施 例中，用于测试DUT 2的测试流程5b与其他测试流程5a、c、d相比更 晚开始，并且与测试流程5a和5b相比更早停止，如在图2b中的时间线t 处可见。这意味着，在测试布置100上运行的测试流程的持续时间以及不 同测试流程中的测试组的数目可以是不同的。在该实施例中，测试流程 5a包括五个测试组TG₁₁、TG₁₂、TG₁₃、TG₁₄和TG₁₅，其中测试流程5b仅 包括三个测试组TG₂₁、TG₂₂和TG₂₃。另外，单独测试组的持续时间或时 间段可以是不同的。例如，测试组TG₃₂的持续时间可以长于测试组TG₂₁的持续时间。

在图2b中，还示出了不同测试组TG的时间间隔对于不同的时间段 或持续时间可以重叠。测试布置100在测试时间间隔中或者在一个时间点 可能仅能够分配每个测试资源RA、RB、RC和RD一次。结果，在被调 度用于利用相同测试资源进行时间上重叠的执行的测试组TG之间再次存 在资源冲突。

例如，测试组TG₂₁和TG₃₂在重叠的时间间隔3a期间都需要测试资源 RB，因此在两个测试组之间产生资源冲突。另外，测试组TG₁₂和测试组 TG₄₂在重叠的时间间隔3b中需要相同的测试资源RD，因此在测试资源 的当前调度内产生另一资源冲突。另外，由于测试资源RA，测试组TG₃₂可能与也被调度在重叠的时间间隔3c中的测试组TG₂₂冲突。最后，图2b 中示出了测试组TG₁₅与测试组TG₄₃之间在小重叠时间间隔3d内的第四 资源冲突。

根据实施例，冲突的测试组的时间间隔可包括不同的时间段或持续时 间。引起资源冲突的重叠的时间间隔可包括仅单个时间点，或者与资源冲 突相关联的至少两个测试组的时间间隔可以部分地或者完全地重叠。测试 组可被在测试布置处并行执行，这意味着同时。

在图3中，用于测试四个被测器件DUT 1、2、3、4的框图被示出。 在该实施例中，测试布置可包括四次测试资源A、一次测试资源B以及四 次测试资源C。测试资源不是以最优方式调度的，这是因为该实施例中的 总测试时间由于测试2的串行化执行而相当高。在当前测试流程中，测试 组或测试在时间线t上经常采用固定的执行次序或时间顺序。

资源A可被测试布置分配在四个重叠的时间间隔中，并且相对应的 测试1可以在所有四个被测器件DUT 1、2、3、4上并行运行。在该示例 中，测试资源B是瓶颈，这是因为其在某一时间间隔期间仅可被分配给一 个测试组。结果，当前测试流程采用固定的串行化的测试套件执行。因 此，借助于测试资源B的测试2的执行被串行化。这种串行化可以是相当 耗时的，并且因而应当被避免。测试2首先被应用于DUT 1，然后被应用 于DUT 2，并且在完成DUT 2之后，DUT 3和DUT 4在后续时间间隔内 被测试。由于串行测试，总的测试时间被增加并且其因而是时间昂贵和成 本昂贵的。通过按照被测器件对测试流程进行重新排序，测试资源需求可 被平衡。如果存在可以以任何次序在测试流程内运行的足够多的独立测试 套件或测试组，那么使用昂贵资源的测试可以与使用不同测试资源的其他 测试并行运行。对每个器件可用的测试资源的需求甚至也可被降低。

在图4中，示出了图3中示出的测试或测试组的优化执行次序。根据 本发明的方法的实施例，测试流程可包括按照某一执行次序的测试套件或 测试组。对于测试流程，重新排序的测试套件或测试组可被分组为可以按 照任何次序执行的独立子流程中。测试流程可以包括具有测试组的初始执 行次序的测试组TG的集合：

testflow_i＝{TG_i1，...，TG_in}(1)

对于每个测试组TG_i，所需独有测试资源的集合是已知的：

R(TGi)＝{R_i1，...，R_im}(2)

这意味着，每个测试组可包括测试相应被测器件所需的测试资源的集 合。

对于每个被测器件D_i(i＝1，...，N)，测试组的集合可以是不同的并且 可以具有不同的长度。不假定器件是属于相同类型的。

在以下情况下称任意两个测试组i和j是冲突的：

在以下情况下称测试组TG_ik与列c冲突：

应当注意到，针对测试组的执行而调度对测试布置的测试资源的使用 的本发明的方法或其步骤可被实现为计算机程序或算法。取决于本发明的 方法的某些实现要求，本发明的方法可以以硬件或者以软件实现。实现可 以利用数字存储介质来执行，数字存储介质具体是其上存储有电可读控制 信号的盘、DVD、CD或者蓝光盘，其与可编程计算机系统协作以使得本 发明的方法被执行。一般而言，本发明因而也是具有存储在机器可读载波 上的程序代码的计算机程序产品，当计算机程序产品在计算机上运行时该 程序代码被操作用于执行本发明的方法。换言之，本发明的方法因而是计 算机程序，该计算机程序具有当该计算机程序在计算机上运行时用于执行 在此描述的本发明的方法中的至少一种的计算机代码。

以下实施例仅仅是例示性的，以例示本发明的原理。明白对下面描述 的矩阵布置以及用于执行本发明的方法的步骤的修改和变更对本领域技术 人员而言将是显然的。一般而言，这种矩阵布置不是必需的，并且可以在 不使用这种矩阵布置的情况下执行所描述的方法、算法和公式。将测试组 和DUT布置在矩阵中仅是用于使方法和算法更有描述性的手段。因而旨 在仅受待定专利权利要求的范围限制，而不受通过对其中实施例的例示、 描述和说明而给出的具体细节限制。在下面，取代使用术语“矩阵的列和 行”以及术语“向具体DUT指派测试流程或时间槽”。

在图5中，示出了根据一个实施例的用于调度对测试布置的测试资源 的使用的方法的算法或计算机程序的伪代码。获取对测试流程中的测试组 做出的测试资源指派的步骤可包括在逻辑上向每个测试组指派其在矩阵布 置中被指派的测试资源，以使得测试组组成行，并且被调度用于利用测试 布置进行在时间上至少部分重叠的执行的测试组组成矩阵布置中的列。结 果，根据该例示性实施例，每个测试组包括矩阵布置中的列位置和行位 置。在图5的行1中，表明测试组被布置在二维阵列中，其中每个行1...N 包括一个被测器件的测试流程并且二维阵列或矩阵布置中的列1...n_max包 含要并行运行或者在时间上重叠的时间间隔中运行的测试。矩阵布置的列 的数目可以决定用于测试被测器件的测试流程中的时间间隔的数目。

根据实施例，获取10指派的步骤可包括接收对用于利用测试布置来 测试被测器件的测试流程中的测试组做出的测试资源指派，其中测试流程 包括测试组的初始执行次序。根据其他实施例，获取10可包括向用于利 用测试布置来测试被测器件的测试流程中的测试组主动指派测试资源。换 言之，获取10可被执行以使得对测试流程中的测试组做出的测试资源指 派例如被馈送给计算机程序或算法，然后计算机程序或算法执行检查20 是否存在资源冲突的步骤并且响应于检查是否存在资源冲突的结果而操纵 30测试流程中的测试组的执行次序。根据其他实施例，获取10可被执行 以使得例如计算机程序或算法进行计算或者向用于测试被测器件的测试流 程中的每个测试组主动指派测试布置的测试资源。

在将测试组布置成二维阵列或矩阵布置中之后，每个测试组TG包括 行位置和列位置，用TG_ic表示，其中行索引i＝1...N，并且列索引 c＝1...n_max。当然应当注意到，根据某些其他实施例，逻辑布置可被选择， 所以用于利用测试布置来测试被测器件的测试流程中的测试组组成列，并 且被调度用于利用测试布置进行时间上重叠的执行的测试组组成矩阵布置 中的行。

根据图5中示出的实施例，检查20是否存在资源冲突可以被逐列执 行，或者根据其他实施例被逐行执行。因此，如图5中的行4所指示，检 查20是否存在资源冲突的步骤是通过搜索具有冲突的测试组TG_ic和TG_jc的列C来执行的。这意味着，在列或者时间上重叠的时间间隔内的每个测 试组将被与同一列中的每个其他测试组相比较，以检查是否存在资源冲突 以至于列中的可用测试资源的数引低于列中实际需要的测试资源的数目。 寻找具有冲突的测试组的列c的搜索可被逐列执行，直到所有资源冲突被 消除或者资源冲突无法被找到为止。

根据实施例，检查20是否存在资源冲突和操纵30测试组的执行次序 可被重复，直到每个资源冲突被消除为止。该重复是通过图5的行4、5 中的“do-while”循环以伪代码实现的。根据伪代码的行6和7，如果 (“if”指令)测试流程中冲突的测试组中的另一测试组可被找到，则两 个测试组TG_jx和TG_jc被交换，以使得根据公式4，测试流程内的测试组的 交换操作不产生新的资源冲突。响应于检查20是否存在资源冲突的结果 而操纵30测试流程中的测试组的执行次序被执行，其中交换操作被使用 以消除资源冲突。根据实施例，仅在没有新的资源冲突因为交换操作而形 成的情况下可以执行交换操作。如果在不产生新的资源冲突的情况下这种 与测试组TG_jc的交换操作是不可能的，那么根据伪代码的行8和9，另一 测试组TG_ix被搜索，其可被与和资源冲突有关的另一测试组TG_ic相交 换。换言之，交换操作可被执行，但是这次是在另一冲突测试组TG_ic(见 行4)的测试流程内执行。

根据某些实施例，交换操作可包括更高的优先级。交换操作可被优选 执行以消除资源冲突。如果无法通过交换操作来交换有资源冲突的测试组 TG_ic和TG_jc中的一个，则因为否则将产生新的资源冲突，因此应当执行将 有资源冲突的测试组TG_ic移动到矩阵布置的同一测试流程或同一行中的 空位置TG_iz的移动操作。如果根据图5的行12至13内的另一“else-if” 指令这是不可能的，那么可以对另一有冲突的测试组TG_jc和矩阵布置的 相应测试流程内的测试组TG_jz的空位置执行相同操作。

将测试组移动到空的时间间隔或者测试组的空列在此被命名为移动到 空时间间隔操作。这种移动到空时间间隔操作可被以比交换操作更低的优 先级但是以比与移动操作相结合的时间间隔插入操作更高的优先级来执 行。移动到空时间间隔操作仅如行10和12中的条件“否则-如果”指令 所表示被执行，并且没有新的资源冲突(！(TG_ic◇z)和！(TG_jc◇z))通过将测 试组TG_ic或TG_jc移动到新的时间间隔或列位置集而被产生。空的时间间 隔或列可以例如通过在前的时间间隔插入操作来创建。如果由于产生新的 资源冲突而无法执行交换操作和移动到空时间间隔操作两者，则可以如在 伪代码的行14和15中所述(“else”指令和“insert column(插入列)” 指令)执行这种时间间隔插入操作。

根据图5中的实施例，可以通过插入新的列c+1并且通过将有资源冲 突的测试组TG_jc移动到新插入的列或者时间间隔TG_j(c+1)来执行时间间隔 插入操作。根据该实施例，通过应用时间间隔插入操作，矩阵布置中的新 列被插入，即新的重叠的空时间间隔被插入在每个被测器件的每个测试流 程中。因而与资源冲突相关联的测试组可被移动到所插入的列或时间间 隔，因此不存在可引起新资源冲突的其他测试组。

根据其他实施例，时间间隔插入操作可被限制，使得新的时间间隔仅 被插入在有资源冲突的测试组TG_ic或TG_jc的行或测试流程中。这例如可 以通过将有资源冲突的测试组移动到相应测试流程的末端来完成。但是可 能也可以将有资源冲突的测试组移动到测试流程内的不同位置，如果不产 生新的资源冲突的话。如图5中通过指令序列所示，用于消除资源冲突的 不同操作可具有不同的优先级。如在图5的行7和9中示出的交换操作可 具有比如在图5的行11和13中示出的移动到空时间间隔操作更高的优先 级，并且移动到空时间间隔操作可具有比如在伪代码的行15中示出的与 移动操作相结合的时间间隔插入操作更高的优先级。更高的优先级意味着 这种操作与具有更低优先级的操作相比被优选执行。

针对测试组的执行而调度对测试资源的使用的方法可包括循环或者可 被以重复方式执行，直到所有资源冲突被消除为止。这由图5中的伪代码 中的“do while”循环示出。

如果在图5中示出并且在此描述的算法被应用于图3中示出的测试流 程布置，那么对测试流程的重新排序被执行，这产生在测试资源和测试时 间方面更高效的测试流程布置，如在图4中示出。

通过在图6a-6j中示出的实施例，对算法及其用于调度测试布置的测 试资源的方法的执行将被更加详细地描述。用于针对测试组的执行而调度 对测试布置的测试资源的使用的方法包括获取10对测试流程中的测试组 做出的测试布置的测试资源的指派的步骤。(测试)站点的初始测试流程 可包含图6a中示出的测试组。至少一个测试资源RA、RB、RC或RD可 被指派给每个测试组TG₁、TG₂、TG₃和TG₄，如图6a的表1中所示。 TG₁需要测试资源RA和RD，测试组TG₂需要测试资源RB，测试组TG₃需要测试资源RA，并且测试组TG₄需要测试资源RC。另外，如图6a的 表2中所示，测试系统或测试布置被假定为提供四倍A类型的测试资源： RA₁、RA₂、RA₃、RA₄，两倍D类型的测试资源：RD₁、RD₂，一倍B类 型的测试资源：RB₁，以及四倍C类型的测试资源：RC₁、RC₂、RC₃、 RC₄。根据实施例，相同的测试流程在4个DUT站点上并行运行。

应当注意到，在图6a-6j中，仅一个示例被给出以图示出用于调度对 测试布置的测试资源的使用的方法，并且其因而不应当被理解为限制本发 明。

在图6b中，矩阵布置或二维阵列40被示出。四个被测器件DUT 1、 2、3、4被并行测试，其中矩阵布置的每个行对应于测试流程5a、5b、 5c、5d，并且每个列1、2、3和4表示时间间隔。在该实施例中，每个测 试流程包括相同执行次序的相同测试组。相同列中的测试组被认为在测试 布置上在相同时间或相同时间间隔处运行或被执行。根据基于矩阵布置来 调度对测试资源的使用的方法的实施例，检查20在矩阵布置的列1中的 测试组之间是否存在资源冲突的步骤被执行。在该实施例中，测试组 TG11和TG31之间产生资源冲突7a(TG₁₁◇TG₃₁)。因为测试布置提供 了四倍的测试资源RA_{1，2，3，4}，因此TG₁₁与TG₃₁之间不存在关于测试资源 RA的资源冲突。但是，因为测试布置同时仅提供一倍的测试资源RD， 因此在相同列或时间间隔内都需要测试资源RD的测试组TG₁₁与TG₃₁之 间存在资源冲突。

在图6c中，在有资源冲突的测试组TG₁₁和TG₃₁之一的行或测试流程 内搜索另一测试组，使得可以在不产生新的资源冲突的情况下执行交换操 作。根据图6c中示出的实施例，操纵30还可以包括为TG₃₁搜索不冲突 列的步骤。在该实施例中，列2是TG₃₁的不冲突列。因而可以发生测试 组TG₃₁与测试组TG₃₂之间的交换操作25。作为交换操作11a的前提，检 查20在TG₃₁与列2中的任何其他测试组之间是否存在冲突以及在测试组 TG₃₂与列1中的任何测试组之间是否存在任何冲突的步骤可被首先执行。 仅在没有冲突的情况下，交换操作11a可被执行。

在图6d中，交换操作11a之后的情况被示出。测试组TG₃₂现在位于 列1中并且测试组TG₃₁位于测试组TG₃₂在列2中的先前位置或时间间 隔。这意味着，列1中的测试组TG₁₁与测试组TG₃₁之间的第一资源冲突 7a(图6b)通过交换操作11a被消除。

根据针对测试组的执行而调度对测试布置中的测试资源的使用的本发 明的方法，在单个列中—这里在矩阵布置40的列1中继续进行检查20两 个测试组之间是否存在资源冲突的步骤。第二资源冲突7b在列1中发 生，这是因为测试组TG₂₁和测试组TG₄₁在相同的列或时间间隔中都需要 测试资源RD₂。当然，测试布置提供了两个D类型的测试资源，RD₁和 RD₂，但是在列1中测试组TG₁₁已经请求了测试资源RD₁。因此，如果仍 有另外两个测试组TG₂₁和TG₄₁同时或者在相同列中请求测试资源RD₂， 则存在资源冲突。

根据本发明的方法，在操纵30的步骤期间，首先执行在相同测试流 程5d中为TG₄₁搜索不冲突列的步骤。搜索不冲突列的步骤可包括检查20 在通过交换操作不产生新的资源冲突的情况下该交换操作在测试流程的其 他列中的测试组之间是否可行的一个或多个步骤。

如图6e所示，对测试组TG₄₁和TG₄₂(列2)的交换操作或位置改变 应当不被执行或者不被允许，这是因为测试组TG₄₂和测试组TG₃₂将产生 关于测试资源RB₁的新的资源冲突。这意味着，TG₄₂与TG₃₂之间将存在 新的冲突，因此列2不适合与TG₄₁进行交换操作。根据本发明的算法或 方法，现在逐列检查交换操作可行与否。因为在测试组TG₄₁与后续列3 中除了要与之进行交换的测试组之外的任何测试组之间不存在冲突，并且 在测试组TG₄₃、可能的交换对象和列1中除了要与之进行交换的测试组 之外的任何测试组之间也不存在冲突，因此两个测试组之间的交换操作可 被执行以消除资源冲突7b。因此，在图6f中，测试组TG₄₃被移动或放置 在测试组TG₄₁在列1中的先前位置，并且测试组TG₄₁被放置在测试组 TG₄₃在列3中的先前位置。因为在测试布置40的列1中没有另外的资源 冲突，因此在测试布置40的下一列2中继续进行检查20在列中的测试组 之间是否存在资源冲突的步骤。在列2中，产生测试组TG₁₂与测试组 TG₂₂之间的另一资源冲突7c。如上所述，在图6g中，再次在相同测试流 程或行5b中搜索测试组TG₂₂的不冲突的列3。测试组TG₂₂与行5b的列1 中的测试组TG₂₁之间的交换操作是不可能或者不被允许的，这是因为在 列1中的TG₂₂与测试组TG₃₂之间将产生关于测试资源RB₁的新的资源冲 突。因此，在剩余的列3和4中继续进行搜索以寻找不冲突的列或测试组 TG₂₂。因为在测试组TG₂₂与测试矩阵40的列3中的任何其他测试组之间 没有冲突并且另外在测试组TG₂₃与列2中的任何其他测试组之间也没有 冲突，因此测试组TG₂₂与TG₂₃之间的交换操作11c可被执行。

在图6h中，通过交换操作11c，测试组TG₁₂与TG₂₂之间的资源冲突 可被消除。在列2中继续进行检查20的步骤表明测试组TG₁₂与测试组 TG₄₂之间关于测试资源RB₁的另一资源冲突。响应于检查20在列2内是 否存在资源冲突的肯定结果，可以通过在行5d中首先为测试组TG₄₂搜索 不冲突列来执行操纵30。因此，检查20可被执行以证实是否将存在与该 操作有关的新的资源冲突。在图6i中的实施例中，在测试组TG₄₂与列1 中的测试组TG₃₂之间将存在冲突。因此，列1不适合用于交换操作。另 外，列3不适合用于交换操作，这是因为将在测试组TG₄₂与TG₂₂之间产 生关于测试资源RB1的新的资源冲突。但是测试组TG₄₂与测试流程或行 5d中的测试组TG₄₄之间的交换操作是可能的，这是因为对资源冲突的检 查表明在测试组TG₄₂与矩阵布置40的列4中的任何其他测试组之间不存 在冲突并且在测试组TG₄₄与列2中的任何测试组之间也不存在冲突。因 此，测试组TG₄₂与测试组TG₄₄之间的交换操作11d可被执行。

在图6j中，示出了在执行测试组TG₄₂与测试组TG₄₄之间的交换操作 11d之后的最终测试矩阵布置。检查20在矩阵布置的列中的测试组之间是 否存在资源冲突的步骤被继续进行。如果在单个列或时间间隔内的测试组 之间不存在另外的资源冲突，则算法结束并且调度测试布置的测试资源的 方法被完成。

根据本发明方法的实施例，检查20是否存在资源冲突以及操纵30测 试组的执行次序的步骤被重复，直到在向测试组做出的测试资源的指派与 向被调度用于利用测试布置进行与该测试组在时间上重叠的执行的另一测 试组做出的一个或多个测试资源的指派之间的每个资源冲突被消除为止。 如果被调度用于利用测试布置进行时间上重叠的执行的指派有相同测试资 源的测试组的数目高于测试布置可提供用于时间上重叠的执行的相同测试 资源的数目，那么可发生资源冲突。根据某些实施例，矩阵布置40中行 的数目决定了被调度用于利用测试布置进行时间上重叠的执行的被测器件 的数目，并且矩阵布置40中列的数目决定了在测试布置上运行的用于 DUT的测试流程中的测试组的数目。根据其他实施例，行和列和相对应 的操作在本发明的其他实施例中可被交换，即在两个行之间执行交换操 作，诸如此类。

可以通过使与资源冲突相关联的测试组的列位置与同一行中的另一列 位置上的另一测试组相交换来执行两个操作，如果与资源冲突相关联的测 试组和与资源冲突相关联的测试组的列位置处的另一测试组不产生另外的 资源冲突的话。可以通过在矩阵布置40中插入另外的列来执行时间间隔 插入操作，并且其中通过使与资源冲突相关联的测试组转移到在同一行中 插入的时间间隔或列来执行后续的移动操作。可以通过使与资源冲突相关 联的测试组移动到矩阵布置的同一行中未被另一测试组占用的列位置来执 行移动到空时间间隔操作。

操纵30测试流程中的测试组的执行次序的步骤还可包括根据所操纵 的执行次序使被测器件以电方式连接到测试布置的测试资源。

在图7中，示出了根据本发明一个实施例的用于调度测试布置的测试 资源的装置100的示意性框图。用于调度测试布置的测试资源的装置100 可包括用于获取对用于利用测试布置来测试被测器件的测试流程中的测试 组做出的测试布置的测试资源的指派的获取器110，其中所述测试流程包 括测试组的初始执行次序。装置100还包括用于检查在指派给测试流程中 的测试组的测试资源与指派给另一测试流程中被调度用于利用测试布置进 行与测试组在时间上重叠的执行的另一测试组的一个或多个测试资源之间 是否存在资源冲突的检查器120。响应于检查器120的结果，操纵器130 可被配置为操纵测试流程中的测试组的执行次序。操纵器130可被配置为 通过以与结合移动操作执行时间间隔插入操作从而将与资源冲突相关联的 测试组移动到所插入的时间间隔相比更高的优先级在与测试流程中的资源 冲突相关联的测试组之间执行交换操作，来消除资源冲突。

根据实施例，获取器110可被配置为自己进行计算，或者基于测试布 置的测试资源和测试组的给定集合来获取对测试流程中的每个测试组做出 的测试资源指派。根据另一实施例，获取器110可被配置为在外部即从外 部设施或人员获取对用于利用测试布置来测试被测器件的测试流程中的测 试组做出的测试资源的指派。为此，获取器还可包括通向环境的通信接口 150。通信接口150可以是计算机接口、键盘等。另外，根据本发明的实 施例，装置100可包括被配置为至少临时存储测试流程中的测试组的执行 次序的存储器140。

操纵器130可被配置为除了执行交换操作和与移动操作相结合的时间 间隔插入操作之外还执行所谓的移动到空时间间隔操作。操纵器可被配置 为以比交换操作更低的优先级但是以比与移动操作相结合的时间间隔插入 操作更高的优先级执行移动到空时间间隔操作。具有更高优先级的操作可 被在具有更低优先级的操作之前执行或者在时间方面被优选。根据另外的 实施例，用于调度测试资源的装置100还可包括根据所调度的测试资源使 测试系统或测试布置上的被测器件以电方式连接或断开的装置。这种装置 例如可以是测试器内的开关矩阵，该开关矩阵可被用于根据测试组的执行 次序将通向不同DUT的电连接切换到测试布置或测试系统的不同测试资 源。利用这种开关矩阵，可能能够并行地或在时间上重叠的时间间隔中测 试多个被测器件，并且可能能够调度对测试布置的可用测试资源的使用。

在另外的实施例中，本发明的方法可包括可在检查20在测试资源的 指派之间是否存在资源冲突的步骤被执行之前执行的另外步骤。在该在前 步骤中，所需测试资源类型的实例被指派给测试组的每个实例。这例如可 以由例如测试设计者或测试工程师之类的确定测试DUT需要哪种仪器 (类型或实例)的人员来完成。仅可能在希望同时使用测试资源的相同实 例的两个测试组之间发生资源冲突。

根据用于针对测试组的执行而调度对测试布置的测试资源的使用的方 法的另一实施例，在测试资源和测试组的实例之间的指派不是给定的而是 可被动态确定的。这例如可在测试期间实现，以使得可被分配在某一时间 间隔中的测试资源被动态地调度用于在某一时刻执行的测试。这意味着， 取决于所执行的测试或测试组，测试布置的测试资源在测试时间期间可被 动态地分配给测试组。

根据本发明方法和本发明装置100的另一方面，测试资源的定义可以 影响用于测试被测器件的测试时间。一般而言，通过测试资源的必要并行 可用性给出了最小和最大粒度。考虑整个测试系统，因为测试资源可引起 整个测试过程的约束串行化。如果测试资源的定义过细，例如测试布置的 模拟仪器的单个器件，那么算法可以缓慢运行，尽管将不会实现与测试资 源指派的更粗糙粒度定义相比更好的利用率。

根据本发明的实施例，测试系统或测试布置中的每个仪器都可被视为 测试资源，该测试资源可被指派给用于测试被测器件的测试流程中的测试 组。一般而言，计算时间或者方法调度测试布置的测试资源所需的时间可 能强烈地取决于必须被考虑在内的测试资源的数目。因此，例如，指派给 同一站点的所有数字信道可被分组在一起作为可被指派给某一测试组的单 个测试资源。这也可以适用于被固定指派给(测试)站点或测试布置的所 有仪器，这是因为那些仪器由于在每个站点存在一次而应当没有测试资源 冲突。用于调度对测试资源的使用的算法或方法也可以优化共享测试资源 的执行次序。

根据本发明的另一实施例，获取10测试资源指派的步骤可以通过按 照固定模式或式样—矩阵布置—在逻辑上布置测试组来执行，其中每个单 个测试组的实际持续时间或测试时间不被考虑。这意味着，存在充当测试 组的占位符的固定时间间隔，其中固定时间间隔与测试组的实际持续时间 无关。在开始，这种矩阵布置可不包括固定的空时间间隔。如果存在无法 通过交换操作解决的资源冲突，并因而执行创建矩阵布置中的新列以及与 之同时的空时间间隔的时间间隔插入操作，那么矩阵布置中的空时间间隔 可形成。然而，如果没有任何空时间间隔的固定模式或矩阵布置被给出， 则其可能由于测试组的测试持续时间与固定时间间隔的持续时间相比可能 更短而包括某些“时间间隙”。

根据一个实施例，矩阵布置的每个固定时间间隔例如可以包括例如1 分钟的某一持续时间，因此如果测试组仅需要半分钟测试时间，则剩余半 分钟形成“时间间隙”。根据其他实施例，固定时间间隔不包括固定持续 时间。时间间隔不是在对测试组重新排序时按照持续时间指定的。在重新 排序之后，可以例如根据该间隔内的最长测试组运行时间来向每个时间间 隔指派持续时间，如果那些测试组的持续时间是预先知晓的话。如果持续 时间是未知的，那么本发明的装置或本发明的算法可以仅并行启动一个时 间间隔的测试，并且等待所有测试结束，然后启动指派给后续时间间隔的 测试组。

根据其他实施例，用于调度对测试资源的使用的方法可被执行或者可 以使用算法，该算法可以通过多线程和合适资源驱动的调度针对上面提到 的“时间间隙”来优化对测试资源的调度。根据在此描述的其他实施例， 如果用于调度对测试布置的测试资源的使用的本发明的方法被执行，那么 每个单个测试组的变化的运行时间或持续时间被考虑。矩阵布置的列或时 间间隔的持续时间可针对布置在矩阵中测试组的不同持续时间来适应性修 改。

根据本发明的实施例，可以在DUT的测试开始之前实现对测试资源 的使用的调度，或者根据另外的实施例，可以在DUT的测试期间调度对 测试资源的使用。这意味着，对测试资源的使用的调度是即刻实现的或者 “按需”实现的或者动态实现的。测试资源可被分配给将被执行的测试 组。因为本发明也考虑在运行时调度测试执行，应当注意到，这考虑到单 独测试组的可变测试时间可能会更加高效。具有固定时间间隔的时间分片 方法可以提供更好的再现性，这是因为其可被预先计算。取决于某些测试 要求，该方法或者其他方法可被认为更加有利。

因此，在某些实施例中，测试布置的测试资源的指派可以在测试 DUT期间被动态地执行，以使得向测试组指派测试资源的时间点在测试 期间是可变的。

上面描述的实施例仅是例示本发明的原理。明白对矩阵布置以及用于 执行本发明方法的步骤的修改和变更对本领域技术人员将是显然的。因而 旨在仅受待定专利权利要求的范围限制，而不受通过对其中实施例的例 示、描述和说明而给出的具体细节限制。

附图的总和被图示为用于针对测试组的执行而调度对测试布置的测试 资源的使用的方法的示意性框图。这些附图同时是本发明装置的图示，其 中框功能是由用于执行功能的某些部件或装置来执行的。

取决于本发明的方法的某些实现要求，在此描述的本发明的方法可以 以硬件或者以软件实现。实现可以利用数字存储介质来执行。换言之，本 发明的方法可以是计算机程序或算法，该计算机程序或算法具有当该计算 机程序或算法在计算机上运行时用于执行本发明的方法中的至少一种的计 算机代码或伪代码。