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辐射干扰波测量方法以及辐射干扰波测量系统

摘要

辐射干扰波测量方法,包括:暂时测量步骤(S21),由EMI接收机(16)的一次的快速傅立叶变换,以测量频率范围为对象,进行宽作为包括峰值检波以及准峰值检波的测量的宽带测量;计算步骤(S22),针对成为测量频率范围的测量结果的候选的测量频率,计算获得的峰值水平与准峰值水平的差;判断步骤(S23),判断获得的差,是否小于与测量频率对应的预先决定的基准值;以及输出步骤,在判断为差小于基准值的情况下,将由宽带测量获得的结果作为辐射干扰波的干扰水平输出(S24),在判断为差为基准值以上的情况下,进行窄带测量,将获得的结果作为辐射干扰波的干扰水平输出(S25),窄带测量是在比测量频率范围窄的频率范围进行的测量,并且是以测量频率为对象的、基于EMI接收机(16)的快速傅立叶变换的测量。

著录项

  • 公开/公告号CN110637234A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-12-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社东阳特克尼卡;

    申请/专利号CN201880006887.1

  • 发明设计人 中村哲也;坪井直树;

    申请日2018-04-20

  • 分类号

  • 代理机构永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人高迪

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2024-02-19 17:37:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R29/08 申请日:20180420

    实质审查的生效

  • 2019-12-31

    公开

    公开

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