公开/公告号CN110537088A
专利类型发明专利
公开/公告日2019-12-03
原文格式PDF
申请/专利权人 日本光电工业株式会社;
申请/专利号CN201880009050.2
发明设计人 樋口诚;
申请日2018-01-25
分类号
代理机构北京奉思知识产权代理有限公司;
代理人邹轶鲛
地址 日本东京
入库时间 2024-02-19 16:59:17
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-01-24
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N15/05 申请日:20180125
实质审查的生效
2019-12-03
公开
公开
机译: 校正数据测量方法,测量设备,存储测量程序的记录介质和测量程序
机译: 表面测量仪器,表面测量方法,表面测量程序以及计算机可读记录介质存储表面测量程序
机译: 元数据相似性测量设备和元数据分层设备,元数据相似性测量方法和元数据分层方法,元数据相似性测量程序和元数据分层程序以及存储这些程序的记录介质