一种基于径向基网络算法获取集成电路成品率的方法

摘要

本发明涉及一种基于径向基网络算法获取集成电路成品率的方法，属于集成电路技术领域，该方法包括：根据集成电路工艺厂商提供的工艺参数，采用径向基网络算法，建立一个替代电路仿真的替代模型，将工艺参数作为替代模型的自变量，电路性能指标作为替代模型的函数值；根据最小范数方法，获取最易使集成电路失效的工艺浮动值；得到的替代模型和最易失效的工艺浮动值，进行统计采样，获取采样点和电路性能指标；根据所述采样点及其电路性能指标，通过统计学方法得到该集成电路的成品率。该方法可降低成品率获取过程中的电路仿真次数，减少分析集成电路成品率所用的时间，缩短集成电路设计周期，加快集成电路生产，降低集成电路的成本，提高经济价值。