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公开/公告号CN110520715A
专利类型发明专利
公开/公告日2019-11-29
原文格式PDF
申请/专利权人 科磊股份有限公司;
申请/专利号CN201880025696.X
发明设计人 S·潘戴夫;陆伟;A·舒杰葛洛夫;
申请日2018-03-01
分类号G01N21/88(20060101);G01N21/47(20060101);G01N21/95(20060101);
代理机构11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司;
代理人刘丽楠
地址 美国加利福尼亚州
入库时间 2024-02-19 16:35:27
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-04-03
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/88 申请日:20180301
实质审查的生效
2019-11-29
公开
机译: 基于散射测量的叠加测量的信号响应计量
机译:测量配置优化应用光学散射测量对多层光栅中子波长尺寸的精确计量
机译:使用基于虚拟参考的基于散射的计量学来测量自对准四重图案俯仰行走
机译:基于测量的成形单光子生成和光学腔中的相干状态叠加
机译:散射测量叠加技术(SCOL)的叠加计量偏移的根本原因分析
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机译:使用从相移光栅成像的目标上进行叠加测量的光刻系统基于晶圆的像差计量
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