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新型CMOS-MEMS兼容的非制冷红外传感器像素级封装方法

摘要

本发明涉及一种新型CMOS-MEMS兼容的非制冷红外传感器像素级封装方法,按以下步骤进行:在器件晶圆的第一牺牲层上制备第二牺牲层并图形化;利用薄膜制备技术在第二牺牲层上分别制备红外增透膜和红外透过层,并在红外增透膜和红外透过层上刻蚀出一个小孔;在红外透过层上制备第三牺牲层并图形化;在第三牺牲层上制备红外增透膜,同时在红外增透膜上刻蚀出一个小孔作为释放孔;通过释放孔去除所有牺牲层并将释放孔用填孔材料密封,划片制得。本发明的工艺能够进一步降低非制冷红外探测器的封装成本,更容易实现非制冷红外探测器的大批量应用。

著录项

  • 公开/公告号CN102935994A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-02-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉高德红外股份有限公司;

    申请/专利号CN201210285478.4

  • 发明设计人 黄立;高健飞;

    申请日2012-08-13

  • 分类号B81C1/00(20060101);

  • 代理机构42104 武汉开元知识产权代理有限公司;

  • 代理人唐正玉

  • 地址 430223 湖北省武汉市东湖开发区黄龙山南路6号

  • 入库时间 2024-02-19 16:20:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-10-28

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):B81C1/00 申请公布日:20130220 申请日:20120813

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2013-03-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):B81C1/00 申请日:20120813

    实质审查的生效

  • 2013-02-20

    公开

    公开

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