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一种用于毫米波天线近场校准及幅相扫描的测试系统及其使用方法

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发明提供了一种用于毫米波天线近场校准及幅相扫描的测试系统及其使用方法，依托可移动的微波屏蔽暗箱，根据微波测试理论，通过数学算法实现待测天线设备高效、高精度的测试。

著录项

公开/公告号CN110488099A

专利类型发明专利
公开/公告日2019-11-22

原文格式PDF
申请/专利权人成都华兴大地科技有限公司;
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申请/专利号CN201910571754.5
发明设计人经莹轩;
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申请日2019-06-28
分类号
代理机构上海启核知识产权代理有限公司;
代理人陈莉
地址 610000 四川省成都市天府新区正兴街道顺圣路172号路
入库时间 2024-02-19 16:11:28

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-12-17

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R29/10 申请日:20190628

实质审查的生效
2019-11-22

公开

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