首页> 中国专利> 一种试样厚度测量装置、测量方法及试样厚度计算方法

一种试样厚度测量装置、测量方法及试样厚度计算方法

摘要

本发明实施例公开了一种试样厚度测量装置、测量方法及试样厚度计算方法,包括用于通过缝隙光源照射试样两侧表面并成像至同一工业相机上的光学成像装置、用于夹持试样并带动试样运动的运动装置,光学成像装置包括用于向试样两侧照射缝隙光的两组照射组件和用于缝隙光成像的成像透镜组件,运动装置包括用于带动试样沿直线运动的X轴滑台以及用于带动试样旋转的旋转台,旋转台设置在X轴滑台上,旋转台上设置有用于夹持试样的试样夹持器,采用光学原理获得待测试样两面狭缝图像的差值,来获取待测试样的最小厚度,快速,高效,其结果可靠,无需对试样进行破坏,且测量的试样最小厚度精准度较高。

著录项

  • 公开/公告号CN110487192A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-11-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国特种设备检测研究院;

    申请/专利号CN201910844293.4

  • 发明设计人 王汉奎;张雪涛;徐彤;

    申请日2019-09-06

  • 分类号G01B11/06(20060101);

  • 代理机构11577 北京知呱呱知识产权代理有限公司;

  • 代理人管士涛

  • 地址 100029 北京市朝阳区和平街西苑2号

  • 入库时间 2024-02-19 16:06:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/06 申请日:20190906

    实质审查的生效

  • 2019-11-22

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号