一种检测DDR内存模块中异常DDR内存的方法

摘要

本发明提出一种检测DDR内存模块中异常DDR内存的方法，包括如下步骤：S1:通过主控模块向DDR内存模块进行检测，如果检测不通过，进行步骤S2；S2：通过主控模块向1号DDR内存和3号DDR内存进行检测，如果检测通过，说明1号DDR内存和3号DDR内存无异常，进行步骤S4，如果检测不通过，说明1号DDR内存或3号DDR内存存在异常，进行步骤S3；S3：通过主控模块向1号DDR内存进行检测，如果检测通过，说明3号DDR内存异常，如果检测不通过，说明1号DDR内存异常；S4：通过主控模块向2号DDR内存进行检测，如果检测通过，说明4号DDR内存异常，如果检测不通过，说明2号DDR内存异常。