首页> 中国专利> 基于SiPM的GIS设备局部放电弱光检测系统和方法

基于SiPM的GIS设备局部放电弱光检测系统和方法

摘要

本申请公开了一种基于SiPM的GIS局部放电弱光检测系统和方法。在该系统中,包括SiPM光学探测传感器、信号处理器、以及后台监控诊断装置。SiPM光学探测传感器对GIS设备局部放电产生的弱光进行过滤和分光,然后将光信号转换为电信号,信号处理器对电信号进行滤波和放大形成有效放电信号,将有效放电信号甄选形成标准电信号,最后将标准电信号转换为数字信号,后台监控诊断装置接收到数字信号,根据预先设定的阈值判断GIS设备局部放电的危险程度。因此解决了现有技术中存在的抗干扰能力差,测量频带窄,频带不能被接收,损坏GIS设备等问题。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/12 申请日:20191107

    实质审查的生效

  • 2019-12-27

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号